RFID智能卡可靠性试验评价技术的研究
| 摘要 | 第1-6页 |
| ABSTRACT | 第6-10页 |
| 第1章 绪论 | 第10-14页 |
| ·概述 | 第10页 |
| ·RFID 技术发展的现状与趋势 | 第10-12页 |
| ·RFID 技术发展现状 | 第10-11页 |
| ·RFID 技术发展的趋势 | 第11-12页 |
| ·RFID 智能卡可靠性的重要性 | 第12页 |
| ·本文的设计思想及主要内容 | 第12-14页 |
| 第2章 射频识别技术及智能卡 | 第14-19页 |
| ·射频识别技术概述 | 第14页 |
| ·射频识别技术的基本原理 | 第14-16页 |
| ·RFID 智能卡 | 第16-18页 |
| ·智能卡的基本组成结构 | 第16页 |
| ·智能卡的工作原理 | 第16-17页 |
| ·智能卡的分类 | 第17页 |
| ·智能卡识别的优点 | 第17-18页 |
| ·本章小结 | 第18-19页 |
| 第3章 智能卡可靠性预计 | 第19-31页 |
| ·可靠性概述 | 第19页 |
| ·可靠性预计 | 第19-20页 |
| ·可靠性预计所能考虑的因素 | 第20页 |
| ·可靠性预计模型 | 第20-23页 |
| ·可靠性预计模型的组成 | 第20-21页 |
| ·可靠性预计模型的基本类别 | 第21-23页 |
| ·RFID 智能卡可靠性预计模型 | 第23-27页 |
| ·集成电路可靠性预计理论 | 第23-24页 |
| ·RFID 智能卡可靠性预计模型的建立 | 第24-25页 |
| ·智能卡可靠性预计模型的数学描述 | 第25-27页 |
| ·模型参数确定 | 第27页 |
| ·RFID 智能卡非工作状态可靠性模型的考虑 | 第27-29页 |
| ·正确看待可靠性预计 | 第29-30页 |
| ·本章小结 | 第30-31页 |
| 第4章 RFID 智能卡可靠性评价试验 | 第31-40页 |
| ·可靠性试验概述 | 第31-32页 |
| ·使用环境和条件对可靠性的影响 | 第32-33页 |
| ·智能卡性能影响因素 | 第33-35页 |
| ·VLSI 的重要失效模式和失效机理 | 第33页 |
| ·金属化互连线开路的失效机理 | 第33-34页 |
| ·VLSI 漏电和短路的主要失效机理 | 第34页 |
| ·热载流子注入的失效机理 | 第34页 |
| ·EEPROM 的失效机理 | 第34-35页 |
| ·RFID 智能卡可靠性评价试验方案 | 第35-38页 |
| ·智能卡可靠性试验项目 | 第35-37页 |
| ·破坏性物理分析试验 | 第37-38页 |
| ·本章小结 | 第38-40页 |
| 第5章 RFID 智能卡应用中的性能评价 | 第40-59页 |
| ·智能卡读取可靠性概述 | 第40页 |
| ·智能卡工作频率 | 第40-41页 |
| ·智能卡作用距离 | 第41-42页 |
| ·智能卡的方向性 | 第42-44页 |
| ·智能卡的移动速度 | 第44-46页 |
| ·智能卡的防冲突性 | 第46-55页 |
| ·TypeA 卡防冲突算法 | 第46-49页 |
| ·TypeB 卡防冲突算法 | 第49-52页 |
| ·防碰撞算法的性能分析 | 第52-55页 |
| ·智能卡受金属物质的影响 | 第55-57页 |
| ·智能卡的重叠 | 第57-58页 |
| ·本章小结 | 第58-59页 |
| 结论 | 第59-60页 |
| 参考文献 | 第60-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 附录A 攻读硕士学位期间发表的论文 | 第64页 |
