基于工控机的高可靠光耦合器测试仪的研制
| 摘要 | 第1-3页 |
| ABSTRACT | 第3-10页 |
| 1 绪论 | 第10-16页 |
| ·课题的来源和意义 | 第10-12页 |
| ·测试仪器的重要性 | 第10页 |
| ·课题的来源 | 第10-12页 |
| ·测试仪器的发展 | 第12-14页 |
| ·传统测试仪器概述 | 第12页 |
| ·现代测试仪器 | 第12-13页 |
| ·光耦合器测试仪器国内国外情况 | 第13-14页 |
| ·本课题的研究内容 | 第14-16页 |
| 2 光耦测试仪工作原理的研究 | 第16-27页 |
| ·光耦合器概述 | 第16-18页 |
| ·什么是光耦合器 | 第16页 |
| ·光耦合器的性能及类型 | 第16-17页 |
| ·光耦合器的静态参数 | 第17-18页 |
| ·光耦合器静态参数的测试原理 | 第18-21页 |
| ·光耦合器测试仪的工作原理 | 第21-27页 |
| ·测试仪工作原理 | 第21-22页 |
| ·信号处理电路的工作原理 | 第22-24页 |
| ·数据采集原理 | 第24-27页 |
| 3 光耦合器测试仪的硬件设计 | 第27-45页 |
| ·测试仪的指标要求 | 第27-28页 |
| ·测试仪的设计方法 | 第28-29页 |
| ·测试仪的整体设计 | 第29-30页 |
| ·工控机的选用 | 第30-31页 |
| ·数据采集卡 | 第31-33页 |
| ·数据采集卡概述 | 第31页 |
| ·凌华 ACL-8111 数据采集卡 | 第31-33页 |
| ·凌华PET-48DIO 接口卡 | 第33-34页 |
| ·信号处理板的设计 | 第34-40页 |
| ·参数测试总体的设计 | 第34-36页 |
| ·信号处理电路设计 | 第36-40页 |
| ·继电器矩阵开关板的设计 | 第40-41页 |
| ·条件电流源的设计 | 第41-42页 |
| ·测试仪的电源设计 | 第42-43页 |
| ·集成稳压器简介 | 第42页 |
| ·测试仪的供电电源 | 第42-43页 |
| ·测试盒 | 第43-45页 |
| 4 光耦合器测试仪的软件设计 | 第45-60页 |
| ·测试软件需求分析 | 第45-47页 |
| ·测试软件的设计要求 | 第45-46页 |
| ·测试软件的设计目标 | 第46页 |
| ·操作系统的选择 | 第46-47页 |
| ·软件开发工具的选择 | 第47页 |
| ·测试软件的设计 | 第47-48页 |
| ·测试软件的设计方法 | 第47页 |
| ·测试软件的模块设计 | 第47-48页 |
| ·主要模块设计 | 第48-60页 |
| ·测试软件的主模块 | 第48-51页 |
| ·PCL-8111 的软件编程 | 第51-54页 |
| ·用文件方法存取数据 | 第54-57页 |
| ·测试界面函数 | 第57-60页 |
| 5 光耦合器测试仪的调试和数据分析 | 第60-66页 |
| ·光耦合器测试仪的组装 | 第60-61页 |
| ·光耦合器测试仪的调试 | 第61-62页 |
| ·对信号处理板的调试 | 第61页 |
| ·对继电器矩阵板的调试 | 第61页 |
| ·测试仪总调试 | 第61-62页 |
| ·光耦合器测试仪的计量 | 第62-63页 |
| ·光耦合器测试仪的误差分析 | 第63-64页 |
| ·精度分析 | 第63页 |
| ·误差比较 | 第63-64页 |
| ·部分实测数据清单示例 | 第64-66页 |
| 6 总结和展望 | 第66-68页 |
| ·总结 | 第66-67页 |
| ·展望 | 第67-68页 |
| 参考文献 | 第68-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第71-73页 |
