| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第13-21页 |
| 1.1 研究背景以及意义 | 第13-14页 |
| 1.2 国内外研究现状以及发展趋势 | 第14-19页 |
| 1.2.1 非硅物理不可克隆函数 | 第15页 |
| 1.2.2 硅物理不可克隆函数 | 第15-19页 |
| 1.3 论文研究内容和创新点 | 第19-20页 |
| 1.4 本文组织结构 | 第20-21页 |
| 第2章 物理不可克隆函数研究的相关综述 | 第21-29页 |
| 2.1 物理不可克隆函数简介 | 第21-22页 |
| 2.2 物理不可克隆函数的属性与应用 | 第22-23页 |
| 2.3 基于环形振荡器物理不可克隆函数原理 | 第23-24页 |
| 2.3.1 基于环形振荡器物理不可克隆函数结构 | 第23页 |
| 2.3.2 环形振荡器结构 | 第23-24页 |
| 2.4 物理不可克隆函数的评测标准 | 第24-28页 |
| 2.4.1 唯一性 | 第24-25页 |
| 2.4.2 可靠性 | 第25-27页 |
| 2.4.3 安全性 | 第27-28页 |
| 2.5 本章小结 | 第28-29页 |
| 第3章 基于环形振荡器物理不可克隆函数可靠性研究 | 第29-41页 |
| 3.1 基于1-out-of-K的RO-PUF | 第29-30页 |
| 3.1.1 基于1-out-of-K方案结构原理 | 第29-30页 |
| 3.1.2 基于1-out-of-8方案的特点与不足 | 第30页 |
| 3.2 类斜率频率补偿方案设计 | 第30-36页 |
| 3.2.1 类斜率频率补偿方案设计结构 | 第30-31页 |
| 3.2.2 温度的可靠性分析 | 第31-33页 |
| 3.2.3 类斜率频率补偿方案流程 | 第33-36页 |
| 3.3 实验设计与结果 | 第36-40页 |
| 3.3.1 可靠性测试结果 | 第37-38页 |
| 3.3.2 硬件开销实验 | 第38-40页 |
| 3.4 本章小结 | 第40-41页 |
| 第4章 基于环形振荡器物理不可克隆函数安全性研究 | 第41-56页 |
| 4.1 相邻编码方案设计 | 第41-44页 |
| 4.1.1 相邻编码方案设计 | 第41-44页 |
| 4.1.2 相邻编码方案设计的特点和不足 | 第44页 |
| 4.2 平均值绝对差方案设计 | 第44-49页 |
| 4.2.1 平均值绝对差方案设计结构 | 第44-45页 |
| 4.2.2 随机性分析 | 第45-46页 |
| 4.2.3 平均值绝对差方案流程 | 第46-49页 |
| 4.3 NIST随机性测试 | 第49-50页 |
| 4.3.1 频数检验 | 第49页 |
| 4.3.2 游程检验 | 第49-50页 |
| 4.4 实验设计结果 | 第50-55页 |
| 4.4.1 D编码与T编码 | 第50-51页 |
| 4.4.2 随机性测试结果 | 第51-55页 |
| 4.5 本章小结 | 第55-56页 |
| 总结 | 第56-58页 |
| 参考文献 | 第58-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 附录 A 攻读学位期间发表的学术论文 | 第64页 |