| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-9页 |
| 1 绪论 | 第9-17页 |
| ·腌渍行业概述 | 第9-10页 |
| ·食品电学检测技术简介 | 第10-15页 |
| ·电学阻抗技术概述 | 第10-11页 |
| ·平行板电极法技术原理 | 第11-13页 |
| ·平行板电极法在食品中的应用 | 第13-15页 |
| ·立题背景和意义 | 第15-16页 |
| ·本课题研究的目的 | 第16页 |
| ·本论文主要研究内容 | 第16-17页 |
| 2 材料与方法 | 第17-21页 |
| ·实验材料 | 第17页 |
| ·试验材料 | 第17页 |
| ·主要试剂 | 第17页 |
| ·实验仪器 | 第17页 |
| ·实验方法 | 第17-20页 |
| ·黄瓜腌渍方法 | 第17页 |
| ·腌渍黄瓜电学特性无损检测 | 第17-18页 |
| ·腌渍黄瓜水分含量测定 | 第18页 |
| ·腌渍黄瓜盐分含量测定 | 第18页 |
| ·腌渍黄瓜亚硝酸盐含量测定 | 第18页 |
| ·腌渍黄瓜总酸含量测定 | 第18页 |
| ·腌渍黄瓜可溶性固形物含量与pH测定 | 第18-19页 |
| ·腌渍黄瓜质构测定 | 第19页 |
| ·腌渍黄瓜游离氨基酸含量测定 | 第19页 |
| ·黄瓜在腌渍过程中的等效电路研究 | 第19页 |
| ·COMSOL Mutiphysics多物理场耦合软件模拟腌渍黄瓜电学特性变化 | 第19-20页 |
| ·数据处理与分析 | 第20-21页 |
| 3 结果与讨论 | 第21-47页 |
| ·腌渍期间黄瓜理化品质研究 | 第21-26页 |
| ·腌渍期间黄瓜的常规理化性质分析 | 第21-23页 |
| ·腌渍期间黄瓜的质构变化分析 | 第23-24页 |
| ·腌渍期间黄瓜的游离氨基酸含量变化 | 第24-26页 |
| ·腌渍期间黄瓜电学特性研究 | 第26-36页 |
| ·黄瓜的等效电路与电路码构建分析 | 第26-30页 |
| ·并联等效电阻Rp和电导G的变化 | 第30-32页 |
| ·并联等效电容Cp和导纳Y的变化 | 第32-34页 |
| ·电路品质因数Q的变化 | 第34页 |
| ·介电特性的变化 | 第34-36页 |
| ·腌渍期间黄瓜电学参数的回归分析 | 第36-45页 |
| ·腌渍期间黄瓜电学参数与理化品质的相关性分析 | 第36-39页 |
| ·腌渍期间黄瓜理化品质参数预测模型的建立 | 第39-41页 |
| ·黄瓜理化品质参数预测模型的检验 | 第41-45页 |
| ·交变电场下黄瓜腌渍期间的电学特性分析 | 第45-47页 |
| 主要结论与展望 | 第47-49页 |
| 主要结论 | 第47页 |
| 展望 | 第47-49页 |
| 致谢 | 第49-50页 |
| 参考文献 | 第50-55页 |
| 附录：作者在攻读硕士学位期间发表的论文 | 第55页 |