可配置的众核结构验证系统的研究与实现
| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-9页 |
| 第一章 绪论 | 第9-17页 |
| ·研究背景与意义 | 第9-11页 |
| ·国内外研究现状及趋势 | 第11-14页 |
| ·众核处理器研究现状与趋势 | 第11-12页 |
| ·验证方法国内外研究现状 | 第12-14页 |
| ·本文主要研究内容 | 第14-17页 |
| 第二章 众核芯片和验证技术研究 | 第17-31页 |
| ·高通量处理器 | 第17-26页 |
| ·高通量处理器的设计思想 | 第18-19页 |
| ·高通量处理器结构设计 | 第19-26页 |
| ·处理器验证技术 | 第26-28页 |
| ·可配置众核结构验证平台 | 第28-29页 |
| ·小结 | 第29-31页 |
| 第三章 验证系统的总体设计及PCB板图实现 | 第31-45页 |
| ·可配置众核结构验证系统的需求分析 | 第31-32页 |
| ·接口的需求 | 第31-32页 |
| ·FPGA性能指标 | 第32页 |
| ·可配置的众核结构验证系统的总体设计 | 第32-38页 |
| ·FPGA芯片的选型 | 第32-34页 |
| ·原理设计 | 第34-35页 |
| ·系统电源设计 | 第35-36页 |
| ·系统时钟设计 | 第36-38页 |
| ·硬件电路的PCB板图实现 | 第38-44页 |
| ·PCB板的结构设计和布局 | 第38-40页 |
| ·PCB板图布线 | 第40-44页 |
| ·小结 | 第44-45页 |
| 第四章 验证系统主要接口的设计与实现 | 第45-61页 |
| ·验证系统的多FPGA配置方案 | 第45-50页 |
| ·FPGA配置方式 | 第45-46页 |
| ·本设计配置方案 | 第46-50页 |
| ·PCI Express接口的实现 | 第50-54页 |
| ·PCI Express接口 | 第50-53页 |
| ·PCIE控制器的实现 | 第53-54页 |
| ·DDR3控制器的实现 | 第54-60页 |
| ·DDR3接口 | 第54-55页 |
| ·DDR3控制器的实现 | 第55-58页 |
| ·PCIE的DMA功能实现 | 第58-60页 |
| ·小结 | 第60-61页 |
| 第五章 系统测试与高通量处理器验证 | 第61-75页 |
| ·电气特性测试 | 第61-65页 |
| ·电源测试 | 第61-62页 |
| ·时钟测试 | 第62-63页 |
| ·PCIE眼图测试 | 第63-65页 |
| ·系统模块功能验证 | 第65-67页 |
| ·PCIE到DDR3的DMA传输测试 | 第65页 |
| ·单核处理器验证 | 第65-67页 |
| ·高通量众核处理器系统验证 | 第67-73页 |
| ·基于双环结构高通量处理器验证结果 | 第67-69页 |
| ·基于2D Mesh结构高通量处理器验证结果 | 第69-70页 |
| ·基于多级总线互连结构的高通量处理器验证结果 | 第70-71页 |
| ·几种总线结构验证总结 | 第71-73页 |
| ·本章小结 | 第73-75页 |
| 第六章 结论与展望 | 第75-77页 |
| ·论文工作总结 | 第75-76页 |
| ·未来工作展望 | 第76-77页 |
| 参考文献 | 第77-79页 |
| 致谢 | 第79-81页 |
| 个人简历与研究成果 | 第81页 |
