| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-10页 |
| 第一章 绪论 | 第10-22页 |
| ·研究背景与意义 | 第10-11页 |
| ·本课题的研究进展 | 第11-20页 |
| ·面向制造的检测方法 | 第11-19页 |
| ·面向应用的检测方法 | 第19-20页 |
| ·总结 | 第20页 |
| ·本文主要研究内容 | 第20-22页 |
| ·研究的目标 | 第20页 |
| ·研究的内容 | 第20-21页 |
| ·论文组织结构 | 第21-22页 |
| 第二章 FPGA器件检测设计方案 | 第22-34页 |
| ·FPGA器件结构分析 | 第22-27页 |
| ·可编程逻辑块(CLB) | 第22-24页 |
| ·可编程输入/输出模块IOB(I/O Block) | 第24-25页 |
| ·可编程互连资源IR(Interconnect Resource) | 第25-26页 |
| ·硬核模块(块RAM、时钟管理和DSP) | 第26-27页 |
| ·FPGA器件的故障模型分析 | 第27-29页 |
| ·典型的故障模型 | 第28-29页 |
| ·FPGA内部各模块的故障模型 | 第29页 |
| ·FPGA器件检测总体方案 | 第29-33页 |
| ·小结 | 第33-34页 |
| 第三章 可编程逻辑块(CLB)故障检测方法 | 第34-52页 |
| ·引言 | 第34页 |
| ·可编程逻辑块(CLB)检测 | 第34-42页 |
| ·查找表(LUT)检测 | 第36-37页 |
| ·查找表(LUT)检测模型 | 第37-40页 |
| ·查找表(LUT)检测方案 | 第40-41页 |
| ·查找表(LUT)检测实现 | 第41-42页 |
| ·触发器(FlipFlop)检测 | 第42-46页 |
| ·触发器(FlipFlop)检测方案 | 第43页 |
| ·触发器(FlipFlop)检测实现 | 第43-46页 |
| ·快速进位逻辑(CarryLogic)检测 | 第46-50页 |
| ·快速进位逻辑(CarryLogic)检测方案 | 第47-49页 |
| ·快速进位逻辑(CarryLogic)检测实现 | 第49-50页 |
| ·小结 | 第50-52页 |
| 第四章 输入输出接口(IOB)及其它专用单元故障检测方法 | 第52-66页 |
| ·引言 | 第52页 |
| ·IOB资源的检测 | 第52-55页 |
| ·IOB的检测方案 | 第53-54页 |
| ·IOB的检测实现 | 第54-55页 |
| ·块RAM(BlockRAM)故障检测方法 | 第55-59页 |
| ·块RAM(BlockRAM)检测方案 | 第56-57页 |
| ·块RAM(BlockRAM)检测实现 | 第57-59页 |
| ·数字时钟管理(DCM)故障检测方法 | 第59-62页 |
| ·乘法器(MULT)故障检测方法 | 第62-64页 |
| ·小结 | 第64-66页 |
| 第五章 可编程互连资源(IR)故障检测方法 | 第66-84页 |
| ·引言 | 第66页 |
| ·可编程互连资源(IR)结构 | 第66-69页 |
| ·可编程互连资源(IR)故障类型 | 第69-70页 |
| ·可编程互连资源(IR)检测方案 | 第70-72页 |
| ·可编程互连资源(IR)检测实现 | 第72-82页 |
| ·长线检测 | 第72-77页 |
| ·短线检测 | 第77-82页 |
| ·小结 | 第82-84页 |
| 第六章 基于ATE的FPGA器件检测实现 | 第84-98页 |
| ·引言 | 第84页 |
| ·Virtex和Virtex-Ⅱ系列FPGA的配置过程 | 第84-85页 |
| ·基于ATE的FPGA器件在线自动配置方案 | 第85-87页 |
| ·测试接口板设计研究 | 第87-89页 |
| ·FPGA器件检测软件实现和检测结果分析 | 第89-96页 |
| ·检测流程 | 第89-94页 |
| ·检测结果分析 | 第94-96页 |
| ·小结 | 第96-98页 |
| 第七章 结论与展望 | 第98-102页 |
| ·总结 | 第98-99页 |
| ·本论文的主要贡献 | 第99-100页 |
| ·展望 | 第100-102页 |
| 参考文献 | 第102-104页 |
| 致谢 | 第104-106页 |
| 个人简历、在学期间发表的论文与研究成果 | 第106页 |
