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倒装芯片锡铅凸块良率的提高

摘要第1-5页
Abstract第5-7页
引言第7-8页
第一章 概述第8-21页
   ·电子封装介绍第8-10页
   ·倒装芯片介绍第10-13页
   ·倒装芯片凸块的工艺步骤和工艺方法第13-16页
   ·国内外研究概况第16-18页
   ·研究目的和内容第18-21页
第二章 实验方法第21-27页
   ·凸块下金属层的制备第21-23页
   ·光刻涂胶、曝光、显影第23页
   ·蚀刻第23-24页
   ·电浆预处理第24页
   ·印刷凸块的制备第24页
   ·凸块的回流第24-27页
第三章 实验结果与讨论第27-43页
   ·离子水的验证第27-28页
   ·验证电浆损伤第28-30页
   ·验证UBM蚀刻前工艺第30-33页
   ·不同UBM系统对良率的影响第33-34页
   ·射频溅镀对良率的有效性第34-37页
   ·小批次试制验证第37-43页
第四章 结论与展望第43-45页
   ·结论第43页
   ·展望第43-45页
致谢第45-46页
参考文献第46-49页

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