| 摘要 | 第1-5页 |
| ABSTRACT | 第5-12页 |
| 第一章 绪论 | 第12-17页 |
| ·课题的研究背景和意义 | 第12-13页 |
| ·课题的研究背景 | 第12-13页 |
| ·课题的研究意义 | 第13页 |
| ·可逆逻辑电路研究现状及发展方向 | 第13-16页 |
| ·技术研究现状分析 | 第13-15页 |
| ·存在难题和发展方向 | 第15-16页 |
| ·本文的研究内容和论文结构 | 第16-17页 |
| 第二章 可逆逻辑电路理论基础及综合方法分析 | 第17-26页 |
| ·可逆逻辑电路理论基础 | 第17-22页 |
| ·量子逻辑门理论简介 | 第17-21页 |
| ·可逆逻辑电路性能指标 | 第21-22页 |
| ·可逆逻辑电路综合方法分析 | 第22-25页 |
| ·主要综合方法介绍 | 第22-24页 |
| ·综合方法总结分析 | 第24-25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 可逆逻辑电路进化设计理论与算法研究 | 第26-54页 |
| ·引言 | 第26-27页 |
| ·遗传进化算法理论简介 | 第27-28页 |
| ·可逆基准电路的进化设计方法 | 第28-36页 |
| ·可逆逻辑电路表达方式 | 第28-29页 |
| ·性能指标评价函数构造 | 第29-30页 |
| ·可逆基准电路进化设计算法 | 第30-31页 |
| ·设计实例及结果分析 | 第31-36页 |
| ·可逆逻辑电路的模块级联式进化设计方法 | 第36-46页 |
| ·变长染色体编码策略 | 第37-38页 |
| ·模块级联进化设计算法 | 第38-40页 |
| ·设计实例及结果分析 | 第40-46页 |
| ·基于二维编码的可逆逻辑电路进化设计方法 | 第46-52页 |
| ·电路进化模型与二维编码 | 第46-47页 |
| ·最小规模可逆真值表构建方法 | 第47-48页 |
| ·电路二维编码的进化设计策略 | 第48-49页 |
| ·设计实例及结果分析 | 第49-52页 |
| ·本章小结 | 第52-54页 |
| 第四章 可逆逻辑电路在线错误检测方法研究 | 第54-72页 |
| ·引言 | 第54页 |
| ·DRG 模块封装检测法分析 | 第54-56页 |
| ·基于容错门封装的可逆逻辑电路在线错误检测方法 | 第56-65页 |
| ·输入位在线错误检测 | 第56-58页 |
| ·输出位在线错误检测 | 第58-60页 |
| ·整体电路在线错误检测 | 第60-61页 |
| ·数据传输检测与自纠正电路 | 第61-63页 |
| ·实验结果分析讨论 | 第63-65页 |
| ·基于可逆逻辑门替换的可逆逻辑电路在线错误检测方法 | 第65-71页 |
| ·可逆逻辑门同功能替换 | 第65页 |
| ·容错门替换方法的电路实现 | 第65-66页 |
| ·可逆4 位容错乘法器优化设计 | 第66-69页 |
| ·实验结果分析讨论 | 第69-71页 |
| ·本章小结 | 第71-72页 |
| 第五章 可逆时序电路设计与实现方法研究 | 第72-85页 |
| ·引言 | 第72-73页 |
| ·可逆触发器的设计方法 | 第73-76页 |
| ·可逆RS 触发器设计 | 第73-74页 |
| ·可逆主从RS 触发器设计 | 第74-75页 |
| ·实验结果分析讨论 | 第75-76页 |
| ·可逆移位寄存器的设计方法 | 第76-81页 |
| ·可逆串行移位寄存器的设计 | 第76-78页 |
| ·双向可逆移位寄存器的函数构造法 | 第78-81页 |
| ·实验结果分析讨论 | 第81页 |
| ·可逆逻辑门的物理实现方法 | 第81-83页 |
| ·本章小结 | 第83-85页 |
| 第六章 总结与展望 | 第85-87页 |
| ·课题工作总结 | 第85页 |
| ·课题展望 | 第85-87页 |
| 参考文献 | 第87-91页 |
| 致谢 | 第91-92页 |
| 在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第92页 |