低速小规模数模混合集成电路测试板设计
| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第一章 绪论 | 第9-17页 |
| 1.1 课题背景 | 第9-11页 |
| 1.2 混合集成电路测试的发展及国内外现状 | 第11-14页 |
| 1.2.1 国外发展现状 | 第11-13页 |
| 1.2.2 国内发展现状 | 第13-14页 |
| 1.3 研究意义 | 第14-15页 |
| 1.4 章节安排 | 第15-17页 |
| 第二章 集成电路测试相关技术 | 第17-26页 |
| 2.1 集成电路测试的分类 | 第17-18页 |
| 2.2 模拟集成电路测试原理 | 第18-19页 |
| 2.3 数字集成电路测试原理 | 第19-20页 |
| 2.4 混合集成电路测试 | 第20页 |
| 2.5 混合集成电路测试原理 | 第20-26页 |
| 2.5.1 混合集成电路基本概念 | 第20-22页 |
| 2.5.2 采样定理 | 第22页 |
| 2.5.3 任意波形产生技术 | 第22-24页 |
| 2.5.4 芯片性能测试流程 | 第24-26页 |
| 第三章 硬件测试板平台设计 | 第26-50页 |
| 3.1 混合集成电路测试仪的总体硬件架构 | 第26-29页 |
| 3.2 测试板硬件总体框架 | 第29-31页 |
| 3.2.1 测试板的设计指标 | 第29-30页 |
| 3.2.2 测试板总体设计方案 | 第30-31页 |
| 3.3 数字信号产生模块 | 第31-35页 |
| 3.3.1 数字信号产生总体设计 | 第31-32页 |
| 3.3.2 数字信号产生电路设计 | 第32-34页 |
| 3.3.3 数字信号产生模块逻辑 | 第34-35页 |
| 3.4 数字捕获模块 | 第35-38页 |
| 3.4.1 数字捕获模块总体设计 | 第35页 |
| 3.4.2 窗口比较器设计 | 第35-36页 |
| 3.4.3 捕获存储器电路设计 | 第36-38页 |
| 3.4.4 数字捕获模块逻辑 | 第38页 |
| 3.5 模拟捕获模块设计 | 第38-42页 |
| 3.5.1 模拟捕获模块总体设计 | 第38-39页 |
| 3.5.2 模拟捕获模块电路设计 | 第39-42页 |
| 3.5.3 模拟捕获电路逻辑 | 第42页 |
| 3.6 精密测量模块设计 | 第42-46页 |
| 3.6.1 精密测量单元设计分析 | 第42-45页 |
| 3.6.2 精密测量单元逻辑 | 第45-46页 |
| 3.7 程控电源模块设计 | 第46-50页 |
| 3.7.1 程控电源总体设计 | 第46页 |
| 3.7.2 程控电源电路设计 | 第46-49页 |
| 3.7.3 程控电源模块逻辑设计 | 第49-50页 |
| 第四章 测试板电路的实际应用 | 第50-60页 |
| 4.1 测试芯片概述 | 第50-52页 |
| 4.2 开短路测试 | 第52-53页 |
| 4.3 测试参数的设置 | 第53-56页 |
| 4.3.1 格式化方式选择 | 第53-54页 |
| 4.3.2 测试向量的设置 | 第54-55页 |
| 4.3.3 程控电源的设置 | 第55页 |
| 4.3.4 参考电平的设置 | 第55-56页 |
| 4.4 芯片静态参数测试 | 第56-60页 |
| 4.4.1 测试方法 | 第56-57页 |
| 4.4.2 差分非线性（DNL）测试 | 第57页 |
| 4.4.3 积分非线性（INL）测试 | 第57-58页 |
| 4.4.4 最低有效位量值（LSB）测试 | 第58页 |
| 4.4.5 满刻度输出（FSR）测试 | 第58-59页 |
| 4.4.6 增益误差（EG）测试 | 第59-60页 |
| 第五章 总结与展望 | 第60-62页 |
| 5.1 测试板工作的意义 | 第60-61页 |
| 5.2 测试板设计前景展望 | 第61-62页 |
| 参考文献 | 第62-64页 |
| 致谢 | 第64-65页 |
