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磁控溅射工艺及退火温度对h-BN薄膜的影响

摘要第4-5页
Abstract第5页
目录第6-8页
第1章 绪论第8-19页
    1.1 引言第8页
    1.2 BN 的结构、性质及应用第8-14页
        1.2.1 六方氮化硼(h-BN)的结构、性质及应用第10-11页
        1.2.2 立方氮化硼(c-BN)的结构、性质及应用第11-13页
        1.2.3 氮化硼各种相之间的转变第13-14页
    1.3 BN 薄膜的制备方法简介第14-15页
    1.4 BN 薄膜的生长模式简介第15-16页
    1.5 BN 薄膜的不稳定性第16-18页
    1.6 本课题的研究意义及内容第18-19页
第2章 实验方法和表征原理第19-25页
    2.1 BN 薄膜制备过程第19-20页
    2.2 BN 薄膜的表征方法第20-25页
        2.2.1 原子力显微镜(AFM)第20-22页
        2.2.2 扫描电子显微镜(SEM)第22页
        2.2.3 傅里叶变换红外光谱(FTIR)第22-23页
        2.2.4 拉曼光谱仪(Raman)第23-24页
        2.2.5 X 射线光电子能谱仪(XPS)第24-25页
第3章 磁控溅射工艺对 h-BN 薄膜的影响第25-45页
    3.1 氮气对氮化硼薄膜沉积的影响第25-28页
        3.1.1 氮气流量对 BN 薄膜表面形貌的影响第25-27页
        3.1.2 氮气流量对 BN 薄膜结晶度的影响第27-28页
    3.2 负偏压对氮化硼薄膜沉积的影响第28-36页
        3.2.1 负偏压对 BN 薄膜表面形貌的影响第29-34页
        3.2.2 负偏压对 BN 薄膜取向及相变的影响第34-36页
    3.3 氢气流量对氮化硼薄膜沉积的影响第36-43页
        3.3.1 氢气流量对 BN 薄膜表面形貌的影响第36-41页
        3.3.3 氢气流量对 BN 薄膜相变的影响第41-43页
    3.4 本章小结第43-45页
第4章 退火温度对 h-BN 薄膜的影响第45-52页
    4.1 实验方法第45-48页
        4.1.1 保护气氛的选择第45-47页
        4.1.2 实验步骤第47-48页
    4.2 退火温度对 h-BN 薄膜相变的影响第48-51页
    4.3 本章小结第51-52页
第5章 结论与展望第52-54页
    5.1 结论第52-53页
    5.2 展望第53-54页
致谢第54-55页
参考文献第55-60页
附录1 攻读硕士学位期间发表的论文第60-61页
附录2 攻读硕士学位期间参加的科研项目第61页

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