电子元器件的外观检测系统的研究与开发
| 摘要 | 第4-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第一章 绪论 | 第10-17页 |
| 1.1 研究意义 | 第10-13页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第13-16页 |
| 1.3 本章小结 | 第16-17页 |
| 第二章 电子元器件外观检测系统的构建 | 第17-27页 |
| 2.1 机器视觉简介 | 第17-18页 |
| 2.2 CCD简介 | 第18-21页 |
| 2.3 照明选择 | 第21-24页 |
| 2.4 检测系统机械平台的构建 | 第24-25页 |
| 2.5 本章小结 | 第25-27页 |
| 第三章 数字图像处理研究 | 第27-36页 |
| 3.1 数字图像处理技术 | 第27-29页 |
| 3.2 电子元器件的分类与检测 | 第29-32页 |
| 3.2.1 电子元器件的分类 | 第29-31页 |
| 3.2.2 电子元器件的外观检测 | 第31-32页 |
| 3.3 图像预处理的基本方法 | 第32-34页 |
| 3.4 本章小结 | 第34-36页 |
| 第四章 电子元器件缺陷算法的相关设计 | 第36-44页 |
| 4.1 缺陷检测算法 | 第36-39页 |
| 4.1.1 传统的canny边缘检测法 | 第36-38页 |
| 4.1.2 经过改进的canny边缘检测算法 | 第38-39页 |
| 4.2 片容与铜片缺陷检测 | 第39-43页 |
| 4.2.1 片容检测 | 第39-42页 |
| 4.2.2 铜片检测 | 第42-43页 |
| 4.3 本章小结 | 第43-44页 |
| 第五章 总结 | 第44-45页 |
| 参考文献 | 第45-49页 |
| 作者简介 | 第49-50页 |
| 致谢 | 第50页 |
