| 摘要 | 第4-5页 |
| Abstract | 第5页 |
| 第1章 绪论 | 第9-22页 |
| 1.1 课题研究背景及意义 | 第9-10页 |
| 1.1.1 课题研究的背景 | 第9页 |
| 1.1.2 课题研究的意义 | 第9-10页 |
| 1.2 MVI的SOC关键技术 | 第10-15页 |
| 1.2.1 IP核复用技术 | 第10-11页 |
| 1.2.2 可测性设计技术 | 第11-13页 |
| 1.2.3 低功耗设计技术 | 第13-15页 |
| 1.3 MVI的SOC测试调度挑战 | 第15-17页 |
| 1.4 MVI的SOC测试调度及存在的问题 | 第17-21页 |
| 1.4.1 MVI的SOC最小测试单元的测试时间优化 | 第18-19页 |
| 1.4.2 MVI的SOC测试资源优化 | 第19-20页 |
| 1.4.3 MVI的SOC测试调度 | 第20-21页 |
| 1.5 课题来源及主要研究内容 | 第21-22页 |
| 第2章 MVI的SOC最小测试单元的测试时间优化 | 第22-38页 |
| 2.1 引言 | 第22页 |
| 2.2 最小测试单元的测试Wrapper及测试时间分析 | 第22-27页 |
| 2.2.1 IEEE 1500 标准 | 第22-24页 |
| 2.2.2 MVI的SOC最小测试单元的测试时间分析 | 第24-25页 |
| 2.2.3 扫描链划分对MVI的SOC最小测试单元的测试时间的影响 | 第25-26页 |
| 2.2.4 ITC’02 国际标准测试集 | 第26-27页 |
| 2.3 MVI的SOC最小测试单元的测试时间优化技术 | 第27-35页 |
| 2.3.1 FFD与BFD算法 | 第28-29页 |
| 2.3.2 MVA和MVAR算法 | 第29-30页 |
| 2.3.3 基于动态参考值和平均值的二次分配算法 | 第30-35页 |
| 2.4 实验与结果分析 | 第35-37页 |
| 2.4.1 实验环境 | 第35页 |
| 2.4.2 实验结果及分析 | 第35-37页 |
| 2.5 本章小结 | 第37-38页 |
| 第3章 MVI的SOC测试资源优化 | 第38-55页 |
| 3.1 引言 | 第38-39页 |
| 3.2 差分进化算法 | 第39-44页 |
| 3.2.1 标准差分进化算法 | 第40-43页 |
| 3.2.2 离散差分进化算法 | 第43-44页 |
| 3.3 MVI的SOC测试资源优化问题 | 第44-49页 |
| 3.3.1 基于测试总线指定型测试资源优化 | 第44-47页 |
| 3.3.2 基于测试总线划分型测试资源优化 | 第47-49页 |
| 3.4 实验与结果分析 | 第49-54页 |
| 3.4.1 基于测试总线指定型测试资源优化实验结果 | 第49-52页 |
| 3.4.2 基于测试总线划分型测试资源优化实验结果 | 第52-54页 |
| 3.5 本章小结 | 第54-55页 |
| 第4章 MVI的SOC测试调度 | 第55-67页 |
| 4.1 引言 | 第55页 |
| 4.2 MVI的SOC测试调度问题 | 第55-62页 |
| 4.2.1 MVI的SOC测试调度问题描述 | 第55-57页 |
| 4.2.2 MVI的SOC测试调度方法 | 第57-59页 |
| 4.2.3 简单MVI的SOC测试调度实例 | 第59-62页 |
| 4.3 MVI的SOC测试调度实验 | 第62-65页 |
| 4.3.1 实验环境 | 第62-63页 |
| 4.3.2 测试总线指定型MVI的SOC测试调度 | 第63-64页 |
| 4.3.3 测试总线划分型MVI的SOC测试调度 | 第64-65页 |
| 4.4 本章小结 | 第65-67页 |
| 结论 | 第67-69页 |
| 参考文献 | 第69-74页 |
| 攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第74-76页 |
| 致谢 | 第76页 |
