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无铅过渡时期混合组装PBGA焊点可靠性及封装体结构参数优化研究

摘要第1-4页
Abstract第4-9页
第一章 绪论第9-15页
   ·引言第9页
   ·课题研究背景和意义第9-11页
   ·课题的国内外研究现状第11-13页
   ·本文主要工作安排和研究思路第13-15页
第二章 混合组装引发的工艺可靠性问题第15-26页
   ·混合合金液相线温度的估算第15-17页
     ·混合合金成分的计算第15-16页
     ·混合合金液相线温度的估算第16-17页
   ·混合组装的失效模式第17-21页
     ·前向兼容组装的失效模式第17-20页
     ·后向兼容组装的失效模式第20-21页
   ·混合组装失效机理探究第21-25页
     ·材料引起的失效第21-22页
     ·组装工艺引起的失效第22-23页
     ·使用环境引起的失效第23-25页
   ·本章小结第25-26页
第三章 电子组装中可靠性数值模拟相关方法及理论第26-34页
   ·有限元法简介第26-27页
     ·有限元的基本思想第26-27页
     ·有限元法的优点第27页
   ·ANSYS软件简介第27-29页
   ·子模型技术第29页
   ·焊料合金的力学行为本构方程第29-31页
   ·焊点疲劳寿命预测模型第31-33页
     ·基于塑性应变的焊点疲劳寿命模型第31-32页
     ·基于蠕变变形为基础的预测模型第32页
     ·基于断裂力学基础的疲劳模型第32页
     ·基于能量的疲劳模型第32-33页
   ·本章小结第33-34页
第四章 热循环加载下PBGA混合焊点有限元仿真分析第34-48页
   ·有限元模型的建立第34-39页
     ·模型基本假设第34页
     ·模型的结构及材料第34-36页
     ·单元类型的选择及材料属性的确定第36-37页
     ·材料参数的确定第37-38页
     ·实体模型的绘制第38页
     ·网格划分及边界条件定义第38-39页
   ·热循环加载第39-40页
   ·仿真结果分析第40-46页
     ·关键焊点位置的确定第40-41页
     ·子模型技术预测关键焊点的疲劳寿命第41-42页
     ·最危险焊点应力应变及动态特性分析第42-45页
     ·Daurvex能量法预测焊点的疲劳寿命第45-46页
     ·不同焊点材料可靠性的对比第46页
   ·本章小结第46-48页
第五章 基于正交试验设计的PBGA封装体结构优化第48-61页
   ·正交试验设计的基本原理和方法第48-50页
     ·正交表第48-49页
     ·正交试验法的步骤第49-50页
     ·MINITAB统计分析软件概述第50页
   ·基于PBGA272封装体的试验设计排定第50-53页
   ·试验结果处理与分析第53-59页
     ·MINITAB中进行正交试验设计分析第53-56页
     ·极差分析法第56-58页
     ·方差分析法第58-59页
   ·本章小结第59-61页
第六章 基于可靠性测试的混合组装试验规划第61-65页
   ·试验目标与方案第61-62页
   ·试验样本的制备第62页
   ·测试设备和测试流程第62-64页
   ·失效标准和失效过程第64页
   ·本章小结第64-65页
第七章 总结和展望第65-67页
   ·总结第65-66页
   ·展望第66-67页
参考文献第67-72页
致谢第72-73页
作者在攻读硕士期间主要研究成果第73页

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