| 摘要 | 第3-4页 |
| Abstract | 第4页 |
| 第一章 绪论 | 第8-14页 |
| §1.1 论文研究背景和意义 | 第8-9页 |
| §1.2 国内外研究现状 | 第9-12页 |
| §1.3 研究内容和结构安排 | 第12-14页 |
| §1.3.1 论文主要研究内容 | 第12页 |
| §1.3.2 论文章节安排 | 第12-14页 |
| 第二章 信号完整性基础理论 | 第14-29页 |
| §2.1 信号完整性基本概念 | 第14-18页 |
| §2.1.1 高速电路 | 第14-15页 |
| §2.1.2 信号完整性问题 | 第15-16页 |
| §2.1.3 散射参数理论 | 第16-18页 |
| §2.2 反射理论 | 第18-23页 |
| §2.2.1 反射基础理论 | 第18-19页 |
| §2.2.2 阻性反射 | 第19页 |
| §2.2.3 容性反射 | 第19-20页 |
| §2.2.4 感性反射 | 第20-21页 |
| §2.2.5 反射的危害及抑制方法 | 第21-23页 |
| §2.3 串扰理论 | 第23-28页 |
| §2.3.1 串扰基本理论 | 第23页 |
| §2.3.2 容性耦合 | 第23-24页 |
| §2.3.3 感性耦合 | 第24-26页 |
| §2.3.4 综合串扰 | 第26-27页 |
| §2.3.5 串扰的危害及抑制方法 | 第27-28页 |
| §2.4 本章小结 | 第28-29页 |
| 第三章 复杂互连结构传输性能分析及等效电路研究 | 第29-45页 |
| §3.1 过孔介绍 | 第29-30页 |
| §3.2 BGA焊点介绍 | 第30-31页 |
| §3.3 复杂互连结构模型传输性能分析 | 第31-37页 |
| §3.3.1 复杂互连结构模型简介 | 第31页 |
| §3.3.2 频率变化的影响 | 第31-32页 |
| §3.3.3 介电常数的影响 | 第32页 |
| §3.3.4 过孔半径的影响 | 第32-33页 |
| §3.3.5 过孔焊盘半径的影响 | 第33页 |
| §3.3.6 过孔电源层隔离区半径的影响 | 第33-34页 |
| §3.3.7 与过孔焊盘相连的印制线长度的影响 | 第34-35页 |
| §3.3.8 过孔高度的影响 | 第35页 |
| §3.3.9 焊球半径的影响 | 第35-36页 |
| §3.3.10 焊球焊盘半径的影响 | 第36页 |
| §3.3.11与焊球焊盘相连的印制线长度的影响 | 第36-37页 |
| §3.4 复杂互连结构等效电路建模 | 第37-44页 |
| §3.4.1 印制线的高频特性 | 第37-39页 |
| §3.4.2 过孔的寄生效应 | 第39-40页 |
| §3.4.3 焊点的寄生效应 | 第40-42页 |
| §3.4.4 复杂互连结构等效电路模型 | 第42-44页 |
| §3.5 本章小结 | 第44-45页 |
| 第四章 双路径复杂互连结构串扰分析及故障测试方法研究 | 第45-66页 |
| §4.1 双路径复杂互连结构串扰分析 | 第45-50页 |
| §4.1.1 双路径复杂互连结构模型简介 | 第45-46页 |
| §4.1.2 频率变化对串扰的影响 | 第46页 |
| §4.1.3 过孔半径变化对串扰的影响 | 第46-47页 |
| §4.1.4 过孔焊盘半径变化对串扰的影响 | 第47-48页 |
| §4.1.5 过孔高度变化对串扰的影响 | 第48页 |
| §4.1.6 焊球半径变化对串扰的影响 | 第48-49页 |
| §4.1.7 焊球焊盘半径变化对串扰的影响 | 第49页 |
| §4.1.8 焊球高度变化对串扰的影响 | 第49-50页 |
| §4.1.9 路径间距变化对串扰的影响 | 第50页 |
| §4.2 双路径复杂互连结构等效电路建模 | 第50-54页 |
| §4.2.1 边缘场与串扰的关系 | 第50-51页 |
| §4.2.2 路径间耦合强度与串扰的关系 | 第51-52页 |
| §4.2.3 双路径复杂互连结构等效电路模型 | 第52-54页 |
| §4.3 双路径复杂互连结构故障测试 | 第54-65页 |
| §4.3.1 故障电压检测法基本思想 | 第54-55页 |
| §4.3.2 故障电压检测法流程图 | 第55页 |
| §4.3.3 电压数据有效性的判定方法 | 第55-58页 |
| §4.3.4 故障函数提取方法 | 第58页 |
| §4.3.5 过孔裂纹故障测试验证 | 第58-62页 |
| §4.3.6 焊点空洞故障测试验证 | 第62-65页 |
| §4.3.7 故障测试总结 | 第65页 |
| §4.4 本章小结 | 第65-66页 |
| 第五章 总结与展望 | 第66-68页 |
| §5.1 总结 | 第66页 |
| §5.2 展望 | 第66-68页 |
| 参考文献 | 第68-72页 |
| 致谢 | 第72-73页 |
| 作者在攻读硕士期间主要研究成果 | 第73页 |