首页--工业技术论文--无线电电子学、电信技术论文--微电子学、集成电路(IC)论文--一般性问题论文--制造工艺论文

聚合物微流控芯片热压工艺及理论研究

摘要第1-6页
Abstract第6-11页
1 绪论第11-22页
   ·微流控芯片第11-13页
     ·微流控芯片概况第11页
     ·微流控芯片材料第11-12页
     ·微流控芯片加工方法第12-13页
   ·国内外研究现状第13-21页
     ·热压键合工艺第13-18页
     ·热压法理论及仿真第18-21页
   ·本文的研究内容第21-22页
2 热压试验第22-30页
   ·试验材料第22-23页
   ·试验设备第23-24页
   ·热压试验的设计第24-25页
   ·热压过程中出现的问题及解决办法第25-26页
     ·微通道填充不完全第25页
     ·微通道深浅不一致第25-26页
     ·模具的影响第26页
   ·热压试验参数的确定第26-29页
   ·本章小结第29-30页
3 键合试验第30-38页
   ·键合试验第30-33页
     ·键合材料第30-31页
     ·键合前的准备第31页
     ·键合试验第31-33页
   ·电泳分离试验第33-36页
     ·背景荧光第34-35页
     ·电泳效率第35页
     ·生物样品分离能力第35-36页
   ·本章小结第36-38页
4 聚合物粘弹性理论及材料模型的建立第38-48页
   ·聚合物力学性能基础理论第38-42页
     ·时间依赖性第38-41页
     ·温度依赖性第41-42页
     ·时温转换原理第42页
   ·聚合物粘弹性的力学模型第42-43页
   ·蠕变试验第43-47页
     ·蠕变试验设计第44页
     ·多项式拟合、一阶指数公式拟合蠕变曲线第44-45页
     ·广义的kelvin-vogit粘弹性模型拟合蠕变曲线第45-47页
   ·本章小结第47-48页
5 热压仿真分析第48-59页
   ·材料模型的选取第48-51页
     ·材料模型第48-49页
     ·有限元仿真第49-51页
     ·结果分析第51页
   ·蠕变试验仿真第51-53页
   ·热压仿真第53-55页
     ·热压温度的影响第53-54页
     ·热压时间的影响第54-55页
   ·热压试验验证第55-57页
     ·热压温度的影响第55页
     ·热压时间的影响第55-57页
   ·本章小结第57-59页
6 残余应力仿真分析初探第59-64页
   ·残余应力的力学模型第59-60页
   ·残余应力有限元仿真第60-61页
     ·热压过程流动残余应力的仿真第60-61页
     ·冷却过程热残余应力的仿真第61页
   ·脱模研究第61-63页
     ·脱模力的计算第61-62页
     ·不易脱模原因及解决方案第62-63页
   ·本章小结第63-64页
结论第64-65页
展望第65-66页
参考文献第66-69页
攻读硕士学位期间发表学术论文情况第69-70页
致谢第70-71页
大连理工大学学位论文版权使用授权书第71页

论文共71页,点击 下载论文
上一篇:攀西地区稻作特点与优质高产栽培技术研究
下一篇:基于底座激励的微器件动态特性测试系统