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基于高光谱成像技术的大米快速无损检测研究

摘要第5-7页
ABSTRACT第7-8页
第一章 绪论第12-21页
    1.1 研究背景和意义第12页
    1.2 大米检测传统方法第12-13页
    1.3 大米检测无损检测方法第13-17页
        1.3.1 可见/近红外光谱技术及其在谷物检测中的应用第13-14页
        1.3.2 计算机视觉技术及其在大米检测中的应用第14-15页
        1.3.3 高光谱成像技术及其在谷物检测中的应用第15-17页
    1.4 国内外研究存在的主要问题第17页
    1.5 研究目标及研究内容第17-19页
        1.5.1 研究目标第17-18页
        1.5.2 研究内容第18页
        1.5.3 技术路线第18-19页
    1.6 本章小结第19-21页
第二章 应用高光谱的波谱信息快速区分大米产地第21-44页
    2.1 引言第21页
    2.2 材料与设备第21-24页
        2.2.1 大米样品第21-22页
        2.2.2 可见/近红外高光谱成像系统第22-24页
    2.3 试验方法第24-26页
        2.3.1 高光谱图像采集第24-25页
        2.3.2 图像前处理第25-26页
    2.4 光谱特征提取第26-30页
        2.4.1 光谱预处理第26-29页
        2.4.2 特征波段选择第29-30页
    2.5 模型建立第30-35页
        2.5.1 偏最小二乘回归算法(PLSR)第31页
        2.5.2 最小二乘支持向量机(LS-SVM)第31-33页
        2.5.3 反向传播神经网络(BPNN)第33-35页
    2.6 大米产地可视化第35页
    2.7 结果与讨论第35-42页
        2.7.1 大米样本光谱特征曲线分析第35-36页
        2.7.2 分类模型建立方法对全波段光谱模型的影响第36-38页
        2.7.3 光谱预处理对全波段光谱模型的影响第38-40页
        2.7.4 特征波段选择对光谱模型的影响第40-41页
        2.7.5 大米产地可视化效果第41-42页
    2.8 本章小结第42-44页
第三章 应用高光谱成像的图像信息快速区分大米产地第44-58页
    3.1 引言第44页
    3.2 材料与设备第44页
        3.2.1 大米样品第44页
        3.2.2 可见/近红外高光谱图像成像系统第44页
    3.3 试验方法第44页
    3.4 图像特征提取第44-53页
        3.4.1 大米颗粒粒形特征提取第44-47页
        3.4.2 大米颗粒透明度特征提取第47页
        3.4.3 大米颗粒纹理特征提取第47-53页
    3.5 分类模型建立第53-54页
    3.6 结果与讨论第54-57页
    3.7 本章小结第57-58页
第四章 融合高光谱波谱图像的大米营养指标快速检测第58-70页
    4.1 引言第58页
    4.2 材料与设备第58-59页
        4.2.1 大米样品第58页
        4.2.2 试剂第58页
        4.2.3 设备第58-59页
    4.3 试验方法第59-61页
        4.3.1 水分含量测定第59页
        4.3.2 蛋白质含量测定第59页
        4.3.3 淀粉含量测定第59-61页
    4.4 大米样品营养成分的高光谱数据处理第61-62页
        4.4.1 大米样品光谱特征提取第61页
        4.4.2 大米样品图像特征提取第61页
        4.4.3 大米营养指标回归模型建立第61-62页
    4.5 结果与讨论第62-68页
        4.5.1 大米营养成分的含量第62页
        4.5.2 大米营养成分的特征波长第62-64页
        4.5.3 大米营养成分的回归模型效果第64-68页
    4.6 本章小结第68-70页
结论与展望第70-73页
参考文献第73-83页
攻读硕士学位期间取得的研究成果第83-85页
致谢第85-86页
附件第86页

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