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28nm IC封装系统的多物理域优化设计

摘要第5-6页
ABSTRACT第6-7页
符号对照表第13-16页
缩略语对照表第16-19页
第一章 绪论第19-25页
    1.1 引言第19页
    1.2 微电子封装技术及发展趋势第19-25页
        1.2.1 微电子封装技术第19-21页
        1.2.2 微电子封装发展趋势第21-25页
第二章 基本理论第25-33页
    2.1 微电子封装的散热原理第25-27页
        2.1.1 热传导第25页
        2.1.2 热对流第25-26页
        2.1.3 热辐射第26-27页
    2.2 微电子封装的热应力与热应变模型第27-29页
        2.2.1 封装热应力第27-28页
        2.2.2 封装热应变第28-29页
    2.3 微电子封装的电性能第29-30页
    2.4 有限元原理第30-32页
    2.5 小结第32-33页
第三章 FCCSP封装热-机械可靠性仿真分析与优化设计第33-45页
    3.1 热-机械可靠性分析有限元模型第33-34页
    3.2 热-机械可靠性分析与优化设计第34-43页
    3.3 本章小结第43-45页
第四章 FCCSP封装的热分析及优化设计第45-61页
    4.1 FCCSP封装散热性能分析第45-53页
        4.1.1 芯片尺寸的影响第46-47页
        4.1.2 封装基板内层铜厚的影响第47-48页
        4.1.3 封装基板BT材料热导率的影响第48-50页
        4.1.4 阻焊层开窗面积的影响第50-53页
    4.2 系统级封装散热性能分析第53-60页
        4.2.1 系统封装热分析仿真模型第53-54页
        4.2.2 系统封装散热设计方案第54-56页
        4.2.3 系统封装仿真结果分析第56-60页
    4.3 本章小结第60-61页
第五章 FCCSP封装电性能仿真分析与优化设计第61-73页
    5.1 传输线基础理论第61-67页
    5.2 FCCSP封装电性能设计及仿真模型第67-68页
    5.3 信号完整性分析第68-70页
    5.4 电源完整性分析第70-72页
    5.5 本章小结第72-73页
第六章 结论第73-75页
参考文献第75-77页
致谢第77-79页
作者简介第79-80页

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