| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-8页 |
| 第一章 绪论 | 第8-18页 |
| ·研究的目的与意义 | 第8-11页 |
| ·基于高光谱图像技术的水果品质检测研究现状 | 第11-13页 |
| ·研究对象 | 第13-15页 |
| ·主要研究内容及技术路线 | 第15-16页 |
| ·本章小结 | 第16-18页 |
| 第二章 高光谱成像技术的相关理论及实验材料 | 第18-28页 |
| ·引言 | 第18页 |
| ·高光谱成像技术的简介 | 第18页 |
| ·高光谱成像的技术原理 | 第18-20页 |
| ·高光谱成像关键技术 | 第20-21页 |
| ·高光谱图像的特点 | 第21页 |
| ·高光谱成像系统 | 第21-23页 |
| ·高光谱数据降维方法 | 第23-26页 |
| ·高光谱图像处理方法 | 第26-27页 |
| ·本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 基于400～100NM高光谱系统检测马铃薯外部缺陷 | 第28-38页 |
| ·实验样本与仪器 | 第28页 |
| ·方法 | 第28-29页 |
| ·结果与分析 | 第29-36页 |
| ·本章小结 | 第36-38页 |
| 第四章 基于900～1700NN高光谱系统检测马铃薯外部缺陷 | 第38-46页 |
| ·实验样本和仪器 | 第38页 |
| ·方法 | 第38-39页 |
| ·结果与分析 | 第39-45页 |
| ·本章小结 | 第45-46页 |
| 第五章 两种类型的高光谱系统检测马铃薯外部缺陷的研究对比 | 第46-48页 |
| ·机械损伤马铃薯缺陷区域检测结果与分析 | 第46页 |
| ·孔洞马铃薯缺陷区域检测结果与分析 | 第46页 |
| ·疮痂马铃薯缺陷区域检测结果与分析 | 第46页 |
| ·表面碰伤马铃薯缺陷区域检测结果与分析 | 第46页 |
| ·发芽马铃薯缺陷区域检测结果与分析 | 第46-47页 |
| ·绿皮马铃薯缺陷区域检测结果与分析 | 第47页 |
| ·合格马铃薯检测结果与分析 | 第47页 |
| ·总体马铃薯检测结果与分析 | 第47页 |
| ·本章小结 | 第47-48页 |
| 第六章 总结与展望 | 第48-50页 |
| ·本研究结论 | 第48页 |
| ·展望 | 第48-50页 |
| 参考文献 | 第50-54页 |
| 致谢 | 第54-56页 |
| 个人简介 | 第56页 |
