| 摘要 | 第5-6页 |
| ABSTRACT | 第6页 |
| 缩略语对照表 | 第10-14页 |
| 第一章 绪论 | 第14-18页 |
| 1.1 课题背景 | 第14-15页 |
| 1.2 课题来源 | 第15页 |
| 1.3 论文的组织结构 | 第15-18页 |
| 第二章 验证方法的基本介绍 | 第18-28页 |
| 2.1 功能验证概述 | 第18页 |
| 2.2 功能验证系统结构研究 | 第18-23页 |
| 2.2.1 传统验证系统结构 | 第18-19页 |
| 2.2.2 层次化的验证系统 | 第19-21页 |
| 2.2.3 几种流行的验证方法 | 第21-23页 |
| 2.3 OVM基本类库及主要特性 | 第23-27页 |
| 2.3.1 OVM基类库 | 第23-25页 |
| 2.3.2 OVM主要特性 | 第25-27页 |
| 2.4 本章小结 | 第27-28页 |
| 第三章 基带芯片与被测模块的基本介绍 | 第28-36页 |
| 3.1 基带芯片 | 第28页 |
| 3.2 调试追踪模块（Debug & Trace） | 第28-35页 |
| 3.2.1 信息类型 | 第32-35页 |
| 3.3 本章小结 | 第35-36页 |
| 第四章 基于OVM的验证系统的设计 | 第36-56页 |
| 4.1 需求分析 | 第36-37页 |
| 4.2 设计结构 | 第37-41页 |
| 4.2.1 混合分立的验证平台的框架 | 第37-38页 |
| 4.2.2 目前一致的集成度更高的验证平台框架 | 第38页 |
| 4.2.3 OVM验证平台机制 | 第38-41页 |
| 4.3 基本组件的设计 | 第41-55页 |
| 4.3.1 数据项（sequence） | 第42页 |
| 4.3.2 序列库(sequence_lib) | 第42-45页 |
| 4.3.3 序列产生器(sequencer) | 第45-46页 |
| 4.3.4 监测器(monitor) | 第46-47页 |
| 4.3.5 代理（agent） | 第47-48页 |
| 4.3.6 环境（env） | 第48-50页 |
| 4.3.7 序列和虚拟序列产生器(seq & virtual sqr) | 第50-53页 |
| 4.3.8 测试（test） | 第53-54页 |
| 4.3.9 虚接.（virtual interface） | 第54-55页 |
| 4.4 本章小结 | 第55-56页 |
| 第五章 核心技术 | 第56-72页 |
| 5.1 难点分析 | 第56-70页 |
| 5.1.1 寄存器的层 | 第57-61页 |
| 5.1.2 数据追踪层 | 第61-62页 |
| 5.1.3 时序列阶段 | 第62-66页 |
| 5.1.4 验证环境中记分板（scoreboard）的技术核心 | 第66-70页 |
| 5.2 搭建易复用验证环境的考虑因素 | 第70-71页 |
| 5.2.1 验证组件的可重用性 | 第70页 |
| 5.2.2 测试用例的可重用性 | 第70页 |
| 5.2.3 自动检测模块的复用性 | 第70-71页 |
| 5.2.4 模块验证系统可重用性 | 第71页 |
| 5.3 本章小结 | 第71-72页 |
| 第六章 验证结果及分析 | 第72-80页 |
| 6.1 基于随机的测试用例 | 第72-74页 |
| 6.2 仿真结果 | 第74页 |
| 6.3 回归测试（regression test） | 第74-75页 |
| 6.4 覆盖率收集 | 第75-78页 |
| 6.4.1 代码覆盖率 | 第75-76页 |
| 6.4.2 功能覆盖率 | 第76-78页 |
| 6.5 设计成果 | 第78页 |
| 6.6 本章小结 | 第78-80页 |
| 第七章 总结和展望 | 第80-82页 |
| 7.1 总结 | 第80页 |
| 7.2 展望 | 第80-82页 |
| 参考文献 | 第82-84页 |
| 致谢 | 第84-86页 |
| 作者简介 | 第86-87页 |
