| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-13页 |
| 第1章 绪 论 | 第13-22页 |
| ·研究背景及任务 | 第13-14页 |
| ·测试向量生成方法的研究概况 | 第14-18页 |
| ·FPGA 开发概述 | 第18-20页 |
| ·FPGA 技术 | 第18页 |
| ·FPGA 设计方法 | 第18-19页 |
| ·FPGA 实现技术的优点 | 第19-20页 |
| ·论文主要工作及组织结构 | 第20-22页 |
| 第2章 数字集成电路测试和遗传算法基本理论 | 第22-32页 |
| ·数字集成电路测试基础 | 第22-26页 |
| ·基本原理 | 第22-23页 |
| ·基本概念 | 第23-24页 |
| ·故障和故障模型 | 第24-26页 |
| ·遗传算法简介 | 第26-30页 |
| ·基本概念 | 第26-27页 |
| ·遗传算法的运行过程 | 第27-29页 |
| ·遗传算法的基本特点 | 第29-30页 |
| ·遗传算法用于测试生成及硬件化研究概况 | 第30-31页 |
| ·小结 | 第31-32页 |
| 第3章 基于遗传算法的测试生成的FPGA 实现研究 | 第32-45页 |
| ·由被测电路自己产生测试向量的测试生成方法 | 第32-34页 |
| ·系统结构设计及关键技术 | 第34-37页 |
| ·系统结构设计 | 第34-35页 |
| ·实现的关键技术 | 第35-37页 |
| ·主要功能模块的实现 | 第37-44页 |
| ·存储器模块 | 第37页 |
| ·随机数模块 | 第37-39页 |
| ·控制模块 | 第39页 |
| ·选择模块 | 第39-40页 |
| ·交叉变异模块 | 第40-41页 |
| ·适应度模块 | 第41-44页 |
| ·小结 | 第44-45页 |
| 第4章 故障模拟器的FPGA 实现研究 | 第45-53页 |
| ·故障模拟基础 | 第45-47页 |
| ·故障模拟问题 | 第45页 |
| ·故障压缩和故障摘除 | 第45-46页 |
| ·故障模拟的典型应用 | 第46-47页 |
| ·故障模拟器的FPGA 实现 | 第47-52页 |
| ·系统结构设计 | 第47-48页 |
| ·注入故障的电路的实现 | 第48-51页 |
| ·存储器模块的实现 | 第51-52页 |
| ·控制模块的实现 | 第52页 |
| ·小结 | 第52-53页 |
| 第5章 功能测试及性能分析 | 第53-60页 |
| ·各模块的功能测试 | 第53-57页 |
| ·随机数模块的仿真 | 第53-54页 |
| ·控制模块的仿真 | 第54页 |
| ·选择模块的仿真 | 第54-55页 |
| ·交叉变异模块的仿真 | 第55页 |
| ·适应度模块的仿真 | 第55-57页 |
| ·顶层模块的仿真 | 第57页 |
| ·系统性能分析 | 第57-59页 |
| ·小结 | 第59-60页 |
| 结论 | 第60-62页 |
| 参考文献 | 第62-67页 |
| 致谢 | 第67-68页 |
| 附录A 攻读学位期间所发表的学术论文目录 | 第68-69页 |
| 附录B 攻读学位期间所参与的科研活动 | 第69页 |