| 致谢 | 第4-5页 |
| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 第1章 绪论 | 第12-21页 |
| 1.1 论文研究背景 | 第12-13页 |
| 1.2 研究意义 | 第13-15页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第15-19页 |
| 1.3.1 国内外IC封测设备发展现状 | 第15-16页 |
| 1.3.2 故障诊断方法的国内外研究现状 | 第16-17页 |
| 1.3.3 IC封测设备故障处理技术研究现状 | 第17-18页 |
| 1.3.4 IC封测设备故障处理方法研究的现存问题 | 第18-19页 |
| 1.4 研究内容及方案 | 第19-21页 |
| 1.4.1 研究内容 | 第19-20页 |
| 1.4.2 研究方案架构 | 第20-21页 |
| 第2章 基于故障树分析法的IC封测设备故障诊断 | 第21-44页 |
| 2.1 引言 | 第21-22页 |
| 2.2 IC封测设备故障诊断基础介绍 | 第22-25页 |
| 2.2.1 重力式IC封测设备介绍 | 第22-24页 |
| 2.2.2 故障树分析法符号定义与分析流程 | 第24-25页 |
| 2.3 IC封测设备故障树建立 | 第25-35页 |
| 2.3.1 IC封测设备常见故障模式分析 | 第26-27页 |
| 2.3.2 演绎法建立IC封测设备故障树 | 第27-31页 |
| 2.3.3 基于规则的故障树合成法 | 第31-35页 |
| 2.4 基于故障树定性定量分析的IC封测设备故障诊断 | 第35-43页 |
| 2.4.1 基于故障树定性分析的IC封测设备故障最小割集求解 | 第35-37页 |
| 2.4.2 基于产生式规则的故障树最小割集自动推理 | 第37-40页 |
| 2.4.3 基于故障树定量分析的IC封测设备最小割集重要度求解 | 第40-42页 |
| 2.4.4 基于故障树定性定量分析结果的故障原因诊断 | 第42-43页 |
| 2.5 本章小结 | 第43-44页 |
| 第3章 基于案例推理的IC封测设备的故障维护建议 | 第44-56页 |
| 3.1 引言 | 第44页 |
| 3.2 传统的IC封测设备故障维护方法 | 第44-46页 |
| 3.3 基于案例推理的IC封测设备故障维护方案建议 | 第46-52页 |
| 3.3.1 案例推理应用于IC封测设备故障维护的原理 | 第46-48页 |
| 3.3.2 IC封测设备故障维护案例的表示 | 第48-49页 |
| 3.3.3 IC封测设备故障维护方案的检索及其修正 | 第49-52页 |
| 3.3.4 IC封测设备故障维护案例库更新 | 第52页 |
| 3.4 基于案例推理的IC封测设备故障维护推广建议 | 第52-55页 |
| 3.5 本章小结 | 第55-56页 |
| 第4章 基于设计理性的IC封测设备设计故障诱因规避 | 第56-67页 |
| 4.1 引言 | 第56页 |
| 4.2 IC封测设备设计过程中常见的故障诱因 | 第56-60页 |
| 4.2.1 零件设计层面的故障诱因 | 第56-57页 |
| 4.2.2 装配体设计层面的故障诱因 | 第57-59页 |
| 4.2.3 优化设计层面的故障诱因 | 第59-60页 |
| 4.3 基于设计理性的故障规避方法 | 第60-66页 |
| 4.3.1 基于同步记录的DR信息的故障诱因规避 | 第61-62页 |
| 4.3.2 基于异步记录的DR信息的故障诱因规避 | 第62-66页 |
| 4.4 本章小结 | 第66-67页 |
| 第5章 IC封测设备故障处理系统的设计与实现 | 第67-78页 |
| 5.1 引言 | 第67页 |
| 5.2 系统介绍 | 第67-68页 |
| 5.3 IC封测设备故障处理系统关键技术及实现 | 第68-75页 |
| 5.3.1 基于规则的IC封测设备故障最小割集求解 | 第68-71页 |
| 5.3.2 IC封测设备故障维护案例相似度算法 | 第71-72页 |
| 5.3.3 设计过程知识异步挖掘关键技术 | 第72-75页 |
| 5.4 系统界面及使用方法介绍 | 第75-77页 |
| 5.5 本章小结 | 第77-78页 |
| 第6章 结论与展望 | 第78-81页 |
| 6.1 结论 | 第78-79页 |
| 6.2 未来工作展望 | 第79-81页 |
| 参考文献 | 第81-85页 |
