抗辐射FPGA布局布线算法研究
| 摘要 | 第5-6页 |
| Abstract | 第6-7页 |
| 第1章 绪论 | 第12-18页 |
| 1.1 研究意义及背景 | 第12-13页 |
| 1.2 SEU容错方法的研究现状 | 第13-16页 |
| 1.3 论文研究的主要内容 | 第16页 |
| 1.4 论文的结构 | 第16-18页 |
| 第2章 FPGA软错误机制和错误建模 | 第18-32页 |
| 2.1 FPGA结构和设计流程 | 第18-21页 |
| 2.1.1 FPGA结构 | 第18-20页 |
| 2.1.2 设计流程 | 第20-21页 |
| 2.2 FPGA软错误 | 第21-27页 |
| 2.2.1 辐射环境概述 | 第22-23页 |
| 2.2.2 空间航天器件所处的辐射环境 | 第23-24页 |
| 2.2.3 软错误的分类 | 第24-25页 |
| 2.2.4 单粒子翻转的产生机理 | 第25-27页 |
| 2.3 FPGA软错误建模 | 第27-31页 |
| 2.3.1 FPGA中的单粒子翻转 | 第27-29页 |
| 2.3.2 开路错误 | 第29-30页 |
| 2.3.3 短路错误 | 第30-31页 |
| 2.4 本章小结 | 第31-32页 |
| 第3章 Anti-VPR布局算法 | 第32-44页 |
| 3.1 VPR布局布线工具介绍 | 第32-37页 |
| 3.1.1 VPR架构文件 | 第32-33页 |
| 3.1.2 VPR中的布线资源图 | 第33页 |
| 3.1.3 VPR布局算法 | 第33-37页 |
| 3.2 改进的布局算法 | 第37-43页 |
| 3.2.1 FPGA故障传播概率计算 | 第37-41页 |
| 3.2.1.1 静态分析方法的扩展 | 第37-39页 |
| 3.2.1.2 T-VPACK介绍 | 第39-40页 |
| 3.2.1.3 EPP实验结果及分析 | 第40-41页 |
| 3.2.2 Anti-VPR布局算法 | 第41-42页 |
| 3.2.3 Anti-VPR布局的实验结果 | 第42-43页 |
| 3.3 本章小结 | 第43-44页 |
| 第4章 FPGA时延布局改进 | 第44-50页 |
| 4.1 时延布局算法的改进 | 第44-48页 |
| 4.1.1 时延布局算法的缺陷 | 第44-46页 |
| 4.1.2 算法的改进 | 第46-48页 |
| 4.2 加入时延改进的Anti-VPR布局结果 | 第48-49页 |
| 4.3 本章小结 | 第49-50页 |
| 第5章 抗辐射布线算法 | 第50-62页 |
| 5.1 基本迷宫布线算法 | 第50-51页 |
| 5.2 A~*算法 | 第51-52页 |
| 5.3 VPR中的布线算法 | 第52-57页 |
| 5.3.1 基于布通率的布线算法 | 第53-55页 |
| 5.3.2 基于时序的布线算法 | 第55-57页 |
| 5.4 改进的布线算法 | 第57-59页 |
| 5.5 实验结果 | 第59-61页 |
| 5.6 本章小结 | 第61-62页 |
| 结论 | 第62-64页 |
| 参考文献 | 第64-68页 |
| 附录A 攻读学位期间所发表的学术论文目录 | 第68-69页 |
| 附录B 攻读硕士学位期间所参与的科研活动 | 第69-70页 |
| 致谢 | 第70页 |
