| 致谢 | 第7-8页 |
| 摘要 | 第8-9页 |
| abstract | 第9页 |
| 第一章 绪论 | 第14-20页 |
| 1.1 CMOS电路的极限 | 第14-16页 |
| 1.2 目前研究进展 | 第16-18页 |
| 1.3 研究内容以及章节安排 | 第18-20页 |
| 第二章 QCA基础知识 | 第20-43页 |
| 2.1 QCA元胞结构 | 第20-22页 |
| 2.2 QCA的量子力学理论基础 | 第22-35页 |
| 2.3 QCA电路时钟 | 第35-37页 |
| 2.4 QCA基本逻辑单元 | 第37-40页 |
| 2.5 交叉线 | 第40-41页 |
| 2.6 QCA电路设计的仿真软件 | 第41-42页 |
| 2.7 本章小结 | 第42-43页 |
| 第三章 基于QCA的二输入比较器设计与可靠性分析 | 第43-64页 |
| 3.1 一位二输入数值比较器 | 第43-47页 |
| 3.1.1 基于逻辑函数的1位二输入比较器设计 | 第43-45页 |
| 3.1.2 基于异或门的1位二输入比较器设计 | 第45-47页 |
| 3.1.3 基于同或门的1位二输入比较器设计 | 第47页 |
| 3.2 多位二输入数值比较器设计 | 第47-49页 |
| 3.3 一位二输入数值比较器的电路可靠性分析 | 第49-62页 |
| 3.3.1 概率转移矩阵 | 第51-54页 |
| 3.3.2 基于逻辑函数的1位二输入数值比较器可靠性分析 | 第54-56页 |
| 3.3.3 基于异或门的1位二输入数值比较器可靠性分析 | 第56-59页 |
| 3.3.4 基于同或门的1位二输入数值比较器可靠性分析 | 第59-61页 |
| 3.3.5 三种二输入比较器电路可靠性比较 | 第61-62页 |
| 3.4 本章小结 | 第62-64页 |
| 第四章 基于QCA的三输入比较器设计与可靠性分析 | 第64-77页 |
| 4.1 基于QCA的一位三输入比较器设计 | 第64-71页 |
| 4.1.1 一层三输入比较器设计 | 第64-66页 |
| 4.1.2 改进的一层三输入数值比较器设计 | 第66页 |
| 4.1.3 二层三输入数值比较器设计 | 第66-68页 |
| 4.1.4 实验模拟及分析 | 第68-71页 |
| 4.2 基于QCA的三输入比较器可靠性分析 | 第71-75页 |
| 4.3 本章小结 | 第75-77页 |
| 第五章 总结与展望 | 第77-79页 |
| 5.1 本文总结 | 第77-78页 |
| 5.2 展望 | 第78-79页 |
| 参考文献 | 第79-83页 |
| 攻读硕士学位期间的学术活动及成果情况 | 第83-84页 |
