| 致谢 | 第7-8页 |
| 摘要 | 第8-9页 |
| abstract | 第9-10页 |
| 第一章 绪论 | 第15-22页 |
| 1.1 课题的研究背景及意义 | 第15-17页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第17-19页 |
| 1.2.1 国外研究现状 | 第18页 |
| 1.2.2 国内研究现状 | 第18-19页 |
| 1.3 论文的主要工作和组织结构 | 第19-20页 |
| 1.3.1 课题来源 | 第19页 |
| 1.3.2 本文的研究内容 | 第19-20页 |
| 1.4 论文的组织结构 | 第20-22页 |
| 第二章 研究工作基础 | 第22-31页 |
| 2.1 NBTI效应与建模 | 第22-26页 |
| 2.1.1 NBTI效应退化的物理机制 | 第22-24页 |
| 2.1.2 NBTI效应的模型 | 第24-26页 |
| 2.2 EDA仿真工具的介绍 | 第26-29页 |
| 2.2.1 DesignCompiler工具 | 第26页 |
| 2.2.2 Hspice工具 | 第26-27页 |
| 2.2.3 基于NBTI效应的静态时序分析(STA)工具 | 第27-29页 |
| 2.3 基于门替换方法的NBTI效应防护技术 | 第29-30页 |
| 2.4 本章小结 | 第30-31页 |
| 第三章 多约束下定位关键门的门替换方法抗电路老化 | 第31-43页 |
| 3.1 多约束下定位关键门的流程 | 第31-33页 |
| 3.2 本文提出的多约束下关键门的识别方法 | 第33-38页 |
| 3.2.1 第一约束路径计算关键门的影响因数 | 第33-34页 |
| 3.2.2 第二约束时延计算关键门的影响因数 | 第34-35页 |
| 3.2.3 第三约束考虑扇入门类型的关键门的可防护性计算影响因数 | 第35-38页 |
| 3.3 门替换的具体算法 | 第38-39页 |
| 3.4 实验结果以及分析 | 第39-42页 |
| 3.4.1 实验环境以及参数的设置 | 第39页 |
| 3.4.2 实验结果及原因的分析 | 第39-42页 |
| 3.5 本章小结 | 第42-43页 |
| 第四章 进一步精简需要替换门集合的方法的改进 | 第43-49页 |
| 4.1 相关工作 | 第43-45页 |
| 4.2 进一步精简需要替换门集合的方法 | 第45-46页 |
| 4.3 实验结果及其分析 | 第46-48页 |
| 4.3.1 实验环境以及参数的设置 | 第46-47页 |
| 4.3.2 结果分析 | 第47-48页 |
| 4.4 本章小结 | 第48-49页 |
| 第五章 结语 | 第49-51页 |
| 5.1 工作总结 | 第49-50页 |
| 5.2 未来展望 | 第50-51页 |
| 参考文献 | 第51-55页 |
| 攻读硕士学位期间的学术活动及成果情况 | 第55-56页 |