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LTE芯片外场测试研究

摘要第5-6页
ABSTRACT第6页
第一章 绪论第10-13页
    1.1 LTE芯片外场测试简介第10页
    1.2 研究背景及意义第10页
    1.3 外场测试现状第10-11页
    1.4 论文的主要工作和内容第11-13页
第二章 LTE关键技术及现网配置分析第13-25页
    2.1 LTE关键技术第13-16页
        2.1.1 正交频分复用技术第13-14页
        2.1.2 多天线技术第14-15页
        2.1.3 调制技术第15-16页
    2.2 现网配置介绍第16-24页
        2.2.1 组网方式第16-17页
        2.2.2 互操作方式第17-19页
        2.2.3 语音的实现方式第19-21页
        2.2.4 短信的实现方式第21页
        2.2.5 子帧配置第21-23页
        2.2.6 系统消息广播第23-24页
    2.3 本章小结第24-25页
第三章 外场测试方法研究第25-27页
    3.1 对比测试第25页
    3.2 压力测试第25-26页
    3.3 自动化测试第26页
    3.4 回归测试第26页
    3.5 本章小结第26-27页
第四章 外场测试内容及相关技术研究第27-54页
    4.1 功能测试第27-37页
        4.1.1 开机驻网测试第27-29页
        4.1.2 飞行模式测试第29页
        4.1.3 分组域业务测试第29-32页
        4.1.4 手动搜网测试第32-33页
        4.1.5 电路域回落测试第33-35页
        4.1.6 Voice Over LTE测试第35-37页
    4.2 性能及稳定性测试第37-39页
        4.2.1 吞吐率测试第37-39页
        4.2.2 业务长保测试第39页
    4.3 移动性测试第39-44页
        4.3.1 空闲状态的移动性测试第39-41页
        4.3.2 连接状态的移动性测试第41-44页
    4.4 互操作测试第44-50页
        4.4.1 异频/异系统小区重选第44页
        4.4.2 异频切换第44-47页
        4.4.3 异系统切换第47-49页
        4.4.4 切换失败RRC重建第49-50页
    4.5 漫游测试第50-53页
        4.5.1 漫游测试相关技术原理第50-51页
        4.5.2 关机漫出测试第51-52页
        4.5.3 开机漫出测试第52页
        4.5.4 关机漫回测试第52页
        4.5.5 开机漫回测试第52-53页
    4.6 多卡芯片测试第53页
    4.7 本章小结第53-54页
第五章 外场测试用例的设计与实现第54-72页
    5.1 功能测试的设计与实现第54-58页
        5.1.1 开机驻网测试的设计与实现第54-55页
        5.1.2 飞行模式测试的设计与实现第55页
        5.1.3 分组域业务测试的设计与实现第55-56页
        5.1.4 手动搜网测试的设计与实现第56页
        5.1.5 电路域回落测试的设计与实现第56-58页
        5.1.6 Voice Over LTE测试的设计与实现第58页
    5.2 性能及稳定性测试的设计与实现第58-59页
    5.3 移动性测试的设计与实现第59-60页
    5.4 互操作测试的设计与实现第60-62页
    5.5 漫游测试的设计与实现第62-63页
    5.6 双卡双待芯片测试的设计与实现第63-64页
    5.7 实测测试用例举例第64-71页
    5.8 本章小结第71-72页
第六章 论文总结第72-73页
    6.1 论文工作总结第72页
    6.2 未来工作展望第72-73页
参考文献第73-75页
致谢第75-76页
Ⅳ-2 答辩委员会对论文的评定意见第76页

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