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恶劣环境下电子组装芯片焊点疲劳寿命预测的研究

摘要第4-5页
Abstract第5-6页
主要符号表第7-9页
目录第9-11页
第1章 绪论第11-17页
    1.1 论文研究的目的和意义第11页
    1.2 课题的来源第11-12页
    1.3 国内外研究现状第12-15页
        1.3.1 焊点的结构及服役寿命影响因素第12-13页
        1.3.2 BGA 焊点的应力分析与疲劳寿命预测方法第13-15页
        1.3.3 QFP 焊点的应力分析与疲劳寿命预测方法第15页
    1.4 本文研究目标及主要内容第15-17页
        1.4.1 研究目标第15-16页
        1.4.2 主要内容第16-17页
第2章 焊点振动交变应力分析与寿命预测第17-39页
    2.1 基于矩形薄板弯曲振动理论的电路板振动分析模型第17-22页
    2.2 基于宽带加速度激励谱的时域加速度激励模型第22-27页
    2.3 PCB 板变形产生芯片焊点交变应力的简化模型第27-35页
        2.3.1 文克勒弹性地基的芯片板模型第27-29页
        2.3.2 不同 PCB 板支撑条件下的芯片焊点应力第29-35页
    2.4 基于 PARIS 裂纹扩展模型的随机振动疲劳寿命预测第35-38页
        2.4.1 圆弧裂纹扩展模型与应力循环次数预测第35-36页
        2.4.2 变幅度交变应力与焊点的时间寿命预测第36-38页
    2.5 本章小结第38-39页
第3章 焊点的温度应力分析第39-49页
    3.1 芯片的温度翘曲变形及其残余温度应力第39-46页
        3.1.1 芯片的温度翘曲变形及其等效温度载荷第39-41页
        3.1.2 等效温度载荷与 BGA 焊点承载应力第41-46页
    3.2 基于梁理论的温度载荷与 QFP 焊点承载应力第46-48页
    3.3 本章小结第48-49页
第4章 某航电 PCB 的焊点疲劳寿命分析及问题解决措施第49-66页
    4.1 QFP 芯片的失效现象分析及寿命预测第49-55页
        4.1.1 QFP 芯片剩余强度试验第49-52页
        4.1.2 QFP 芯片焊腿的热疲劳应力计算第52-55页
    4.2 BGA 芯片的失效现象分析及寿命预测第55-62页
        4.2.1 BGA 芯片焊点随机振动疲劳寿命预测第55-58页
        4.2.2 BGA 芯片焊点的热疲劳服役寿命预测第58-62页
    4.3 电子组装设计及制作工艺改进措施第62-65页
        4.3.1 降低 QFP 焊腿热应力的应力松弛改进设计第62-64页
        4.3.2 降低 BGA 焊点热应力的下部填充胶改进工艺措施第64-65页
        4.3.3 工程实际应用情况第65页
    4.4 本章小结第65-66页
结论第66-68页
参考文献第68-73页
致谢第73-75页
个人简历第75页

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