| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-13页 |
| ·所选课题的背景 | 第7-10页 |
| ·传统熔丝所面临的问题 | 第7-8页 |
| ·新兴的电子可编程熔丝发展优势和应用领域 | 第8-10页 |
| ·国内外发展状况 | 第10-11页 |
| ·国外研究状况 | 第10页 |
| ·国内研究状况 | 第10-11页 |
| ·本文工作的目标与内容 | 第11-13页 |
| ·本文工作的目标与内容 | 第11页 |
| ·章节安排 | 第11-13页 |
| 第二章 电子级熔丝的基础知识 | 第13-23页 |
| ·电子可编程熔丝的基本原理 | 第13-15页 |
| ·电子级熔丝材料及外形结构的选择 | 第15-19页 |
| ·电子级熔丝材料的选择 | 第16-17页 |
| ·电子级熔丝外形结构的选择 | 第17-19页 |
| ·电子级熔丝可靠性的研究及测试方案 | 第19-21页 |
| ·本章小结 | 第21-23页 |
| 第三章 0.13μm CMOS工艺下efuse的外围电路设计 | 第23-41页 |
| ·第一种efuse电路设计 | 第23-29页 |
| ·译码模块 | 第24-25页 |
| ·编译模块 | 第25-27页 |
| ·输出模块 | 第27-29页 |
| ·第二种efuse电路设计 | 第29-33页 |
| ·译码模块 | 第30-32页 |
| ·编译模块 | 第32-33页 |
| ·输出模块 | 第33页 |
| ·第三种efuse电路设计 | 第33-39页 |
| ·译码模块 | 第33-34页 |
| ·读信号模块 | 第34-35页 |
| ·编辑模块 | 第35-38页 |
| ·输出模块 | 第38-39页 |
| ·本章小结 | 第39-41页 |
| 第四章 三种efuse电路的仿真结果 | 第41-53页 |
| ·第一种efuse电路仿真结果 | 第41-44页 |
| ·第二种efuse电路仿真结果 | 第44-47页 |
| ·第三种efuse电路仿真电路 | 第47-50页 |
| ·efuse熔丝可靠性仿真结果 | 第50-51页 |
| ·三种电路的仿真对比总结 | 第51-52页 |
| ·本章小结 | 第52-53页 |
| 第五章 版图设计 | 第53-57页 |
| ·编译单元版图 | 第53-55页 |
| ·efuse电路的整体版图 | 第55-56页 |
| ·本章小结 | 第56-57页 |
| 第六章 测试结果分析 | 第57-67页 |
| ·efuse熔丝的可靠性测试 | 第57-60页 |
| ·DCT测试 | 第57-58页 |
| ·HTS测试 | 第58-59页 |
| ·DTC测试 | 第59-60页 |
| ·HAST测试 | 第60页 |
| ·efuse电路测试结果 | 第60-65页 |
| ·读取电路的测试结果 | 第65页 |
| ·本章小结 | 第65-67页 |
| 第七章 总结与展望 | 第67-69页 |
| 致谢 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-73页 |