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FLASH控制器IP的功能验证研究

摘要第1-4页
Abstract第4-7页
第一章 绪论第7-11页
   ·IC 验证的研究背景第7-8页
   ·IC 验证的研究现状第8-9页
   ·论文的主要工作第9-10页
   ·章节安排第10-11页
第二章 验证基础知识第11-23页
   ·验证技术第11-16页
     ·动态验证技术第11-13页
     ·静态验证技术第13-16页
   ·验证方法第16-17页
     ·AVM第16页
     ·OVM第16-17页
     ·VMM第17页
   ·验证平台的建立及迁移第17-20页
     ·验证平台的功能第17-18页
     ·验证平台的结构第18-19页
     ·验证平台的设计思想第19页
     ·验证平台的迁移第19-20页
     ·验证平台的现状第20页
   ·验证语言第20-21页
   ·验证IP 重用第21页
   ·验证途径第21-22页
   ·器件测试第22页
   ·本章小结第22-23页
第三章 FLASH 控制器工作原理第23-37页
   ·FLASH 制造原理及内嵌FLASH 的优点第23-24页
     ·FLASH 制造原理第23-24页
     ·嵌入式FLASH 的优点第24页
   ·FLASH 简介第24-28页
     ·FLASH 分类及简介第24-26页
     ·PF32K17E FLASH 时序图第26-28页
   ·FLASH 控制器在系统中的作用第28-36页
     ·ARM 简介第28-29页
     ·EBI 简介第29-31页
     ·FLASH 控制器在系统中的位置第31-32页
     ·FLASH 控制器模块简介第32-36页
   ·本章小结第36-37页
第四章 FLASH 控制器验证第37-63页
   ·验证实施方案第37-40页
     ·验证工具第37-38页
     ·验证语言第38页
     ·验证目标第38页
     ·关键技术及难点分析第38页
     ·验证计划第38-39页
     ·FLASH 功能列表第39-40页
   ·验证平台的搭建及激励的加入第40-53页
     ·验证平台的搭建第40-41页
     ·监视器(monitor)第41-42页
     ·断言(assertion)第42-45页
     ·功能覆盖率(coverage)第45-49页
     ·受约束的随机激励第49-52页
     ·错误激励第52-53页
   ·验证结果第53-62页
     ·模块验证结果第53-60页
     ·验证平台的系统验证第60-62页
   ·本章小结第62-63页
第五章 结束语第63-65页
   ·总结第63页
   ·展望第63-65页
致谢第65-67页
参考文献第67-69页

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