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ULSI光刻图形线宽调制的优化研究

摘要第3-4页
Abstract第4页
引言第5-6页
第一章 绪论第6-13页
    第一节 光刻技术现状第6-10页
    第二节 研究方向及意义第10-13页
第二章 光刻工艺介绍及现状第13-23页
    第一节 光刻工艺的介绍第13-16页
    第二节 ACT8 Track光刻工艺(匀胶显影)介绍第16-23页
第三章 匀胶相关工艺对光刻线宽调制影响分析第23-50页
    第一节 衬底预处理对光刻线宽调制影响分析第23-30页
    第二节 匀胶前冷却对光刻线宽调制影响分析第30-34页
    第三节 光刻胶匀胶槽对光刻线宽调制影响分析第34-42页
    第四节 匀胶后烘烤(软烤)对光刻线宽调制影响分析第42-50页
第四章 显影相关工艺对光刻线宽调制影响分析第50-73页
    第一节 曝光后烘烤对光刻线宽调制影响分析第50-56页
    第二节 显影前冷却对光刻线宽调制影响分析第56-60页
    第三节 显影槽对光刻线宽调制影响分析第60-68页
    第四节 显影后烘烤(硬烤)对光刻线宽调制影响分析第68-73页
第五章 论文工作在企业生产中的实际应用第73-84页
    第一节 DUV机台烘烤槽工艺时间控制设定和优化第73-78页
    第二节 降低光刻胶成本研究第78-84页
第六章 结论第84-86页
参考文献第86-87页
致谢第87-88页

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