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基于压电雾化喷涂法光刻胶涂覆工艺及其应用研究

摘要第4-6页
Abstract第6-7页
第一章 绪论第11-21页
    1.1 课题研究背景和意义第11-12页
    1.2 国内外研究现状第12-19页
        1.2.1 光刻胶涂覆方法的研究现状第12-16页
        1.2.2 基于压电雾化喷涂法光刻胶涂覆研究现状第16-19页
    1.3 研究现状分析第19-20页
    1.4 主要研究内容第20页
    1.5 本章小结第20-21页
第二章 压电雾化涂覆光刻胶机理分析第21-32页
    2.1 引言第21页
    2.2 压电雾化机理分析第21-26页
        2.2.1 压电换能器工作机理分析第21-24页
        2.2.2 空化效应机理分析第24-26页
    2.3 薄膜制备的模型第26-31页
        2.3.1 薄膜制备物理模型的分析第26-29页
        2.3.2 薄膜厚度数学模型的建立第29-31页
    2.4 本章小结第31-32页
第三章 压电雾化涂覆光刻胶实验系统的搭建第32-51页
    3.1 引言第32页
    3.2 系统总体方案设计第32-36页
        3.2.1 设计要求第32-33页
        3.2.2 总体方案设计第33-34页
        3.2.3 控制流程设计第34-35页
        3.2.4 配置的选择第35-36页
    3.3 系统硬件设计第36-41页
        3.3.1 真空箱设计第36-39页
        3.3.2 吸附加热系统设计第39页
        3.3.3 喷头气道设计与仿真第39-41页
    3.4 系统软件设计第41-45页
        3.4.1 PLC程序控制第41-43页
        3.4.2 人机交互界面设计第43-45页
    3.5 系统电气设计第45-47页
    3.6 系统总装调试第47-49页
    3.7 本章小结第49-51页
第四章 压电雾化光刻胶薄膜制备工艺研究实验第51-75页
    4.1 引言第51页
    4.2 制备正性光刻胶薄膜工艺研究第51-62页
        4.2.1 稀释体积比和流量对正胶薄膜质量指标的影响第51-53页
        4.2.2 预热温度和气压对正胶薄膜质量指标的影响第53-55页
        4.2.3 距离和功率对正胶薄膜质量指标的影响第55-58页
        4.2.4 速度和基材对正胶薄膜质量指标的影响第58-60页
        4.2.5 稀释溶剂和层数对正胶薄膜质量指标的影响第60-62页
    4.3 制备负性光刻胶薄膜工艺研究第62-70页
        4.3.1 稀释体积比和流量对负胶薄膜质量指标的影响第62-64页
        4.3.2 预热温度和气压对负胶薄膜质量指标的影响第64-66页
        4.3.3 距离和功率对负胶薄膜质量指标的影响第66-68页
        4.3.4 速度和层数对负胶薄膜质量指标的影响第68-70页
    4.4 工艺参数对光刻胶薄膜粘附力影响实验第70-73页
        4.4.1 稀释体积比和预热温度对光刻胶薄膜粘附力的影响第70-71页
        4.4.2 前烘温度和前烘时间对光刻胶薄膜粘附力的影响第71-73页
        4.4.3 基材和有机溶剂对光刻胶薄膜粘附力的影响第73页
    4.5 小结第73-75页
第五章 制备压电雾化光刻胶薄膜的应用实验第75-83页
    5.1 引言第75页
    5.2 压电雾化法制备光刻胶薄膜在光刻中的应用实验第75-78页
        5.2.1 前烘对光刻线宽的影响第75-76页
        5.2.2 曝光对光刻线宽的影响第76-77页
        5.2.3 后烘对光刻线宽的影响第77-78页
        5.2.4 显影对光刻线宽的影响第78页
    5.3 压电雾化法与旋转法制备光刻胶薄膜的应用对比实验第78-81页
        5.3.1 宏观对比实验第79-80页
        5.3.2 微观对比实验第80-81页
    5.4 本章小结第81-83页
第六章 总结与展望第83-86页
    6.1 总结第83-84页
    6.2 展望第84-86页
参考文献第86-91页
攻读学位期间本人出版或公开发表的论著、论文第91-92页
致谢第92页

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