| 摘要 | 第10-11页 |
| ABSTRACT | 第11-12页 |
| 第一章 绪论 | 第13-25页 |
| 1.1 课题背景及研究意义 | 第13-16页 |
| 1.2 集成电路功能验证技术相关研究 | 第16-23页 |
| 1.2.1 模拟验证技术 | 第16-19页 |
| 1.2.2 形式化验证方法 | 第19-20页 |
| 1.2.3 相关验证语言 | 第20-21页 |
| 1.2.4 相关验证方法 | 第21-23页 |
| 1.3 本文主要工作 | 第23页 |
| 1.4 本文组织结构 | 第23-25页 |
| 第二章 功能模型F-M及功能规范模型语言 | 第25-38页 |
| 2.1 功能模型相关研究 | 第25-27页 |
| 2.2 功能模型F-M的定义与构成 | 第27-37页 |
| 2.2.1 功能模型F-M整体结构 | 第28页 |
| 2.2.2 实体层结构 | 第28-30页 |
| 2.2.3 事件层结构 | 第30-31页 |
| 2.2.4 功能层结构 | 第31-36页 |
| 2.2.5 功能模型描述完备性 | 第36-37页 |
| 2.3 本章小结 | 第37-38页 |
| 第三章 基于功能模型F-M的自动验证平台 | 第38-53页 |
| 3.1 功能完备性自动验证平台 | 第38-39页 |
| 3.2 功能模型解析 | 第39-51页 |
| 3.2.1 功能模型语言语法分析 | 第39-42页 |
| 3.2.2 验证平台生成 | 第42-51页 |
| 3.3 本章小结 | 第51-53页 |
| 第四章 FT_X_DMA从机UVM验证平台 | 第53-71页 |
| 4.1 FT_X_DMA相关背景 | 第53-54页 |
| 4.1.1 FT_X_DMA整体 | 第53页 |
| 4.1.2 FT_X_DMA从机 | 第53-54页 |
| 4.2 UVM验证平台的结构 | 第54-55页 |
| 4.3 UVM验证平台的实现 | 第55-64页 |
| 4.4 验证结果与分析 | 第64-70页 |
| 4.4.1 部分波形 | 第64-66页 |
| 4.4.2 覆盖率 | 第66-68页 |
| 4.4.3 UVM验证报告 | 第68-70页 |
| 4.5 本章小结 | 第70-71页 |
| 第五章 FT_X_DMA从机功能建模及验证平台构建 | 第71-97页 |
| 5.1 FT_X_DMA从机功能规范建模 | 第71-83页 |
| 5.2 FT_X_DMA从机验证平台构建 | 第83-85页 |
| 5.3 验证结果与分析 | 第85-93页 |
| 5.3.1 部分波形 | 第85-88页 |
| 5.3.2 覆盖率 | 第88-90页 |
| 5.3.3 断言报告 | 第90-93页 |
| 5.4 两种验证方法的比对 | 第93-96页 |
| 5.5 本章小结 | 第96-97页 |
| 第六章 结束语 | 第97-99页 |
| 6.1 本文总结 | 第97页 |
| 6.2 工作展望 | 第97-99页 |
| 致谢 | 第99-101页 |
| 参考文献 | 第101-105页 |
| 作者在读期间取得的学术成果 | 第105页 |