| 致谢 | 第7-8页 |
| 摘要 | 第8-9页 |
| ABSTRACT | 第9-10页 |
| 第一章 绪论 | 第15-23页 |
| 1.1 研究的背景及意义 | 第15-17页 |
| 1.2 研究对象 | 第17-18页 |
| 1.3 国内外研究现状 | 第18-20页 |
| 1.4 课题来源 | 第20页 |
| 1.5 研究内容及创新点 | 第20-21页 |
| 1.6 论文组织结构 | 第21-23页 |
| 第二章 老化的基本知识及仿真工具 | 第23-38页 |
| 2.1 老化失效的成因 | 第23-25页 |
| 2.1.1 NBTI(负偏置温度不稳定性) | 第23-24页 |
| 2.1.2 HCI(热载流子注入) | 第24-25页 |
| 2.1.3 TDDB(经时击穿) | 第25页 |
| 2.1.4 EM(电迁移) | 第25页 |
| 2.2 NBTI老化模型的建立 | 第25-32页 |
| 2.2.1 反应扩散(R-D)模型 | 第25-27页 |
| 2.2.2 NBTI晶体管模型 | 第27-29页 |
| 2.2.3 NBTI门延迟模型 | 第29-32页 |
| 2.3 NBTI时序分析框架 | 第32-34页 |
| 2.4 片上老化监测原理 | 第34-36页 |
| 2.5 实验工具的介绍 | 第36-37页 |
| 2.5.1 Vector容器的介绍 | 第36页 |
| 2.5.2 Hspice仿真工具的介绍 | 第36-37页 |
| 2.6 本章小结 | 第37-38页 |
| 第三章 一种高效高可靠性老化路径约减算法 | 第38-47页 |
| 3.1 路径最坏情况退化分析研究 | 第38-39页 |
| 3.2 电路路径延迟公式的改进 | 第39页 |
| 3.3 路径约减算法的前期研究 | 第39-42页 |
| 3.3.1 路径约减算法的研究意义 | 第39-40页 |
| 3.3.2 潜在关键路径的提出 | 第40-42页 |
| 3.4 基于逻辑门类型的老化路径约减算法 | 第42-45页 |
| 3.4.1 算法的思想 | 第42-43页 |
| 3.4.2 算法的步骤和实现 | 第43-45页 |
| 3.5 实验结果与分析 | 第45-46页 |
| 3.6 本章小结 | 第46-47页 |
| 第四章 一种自锁存的环形振荡老化度量结构设计 | 第47-55页 |
| 4.1 经典的混合模型老化监测器技术研究 | 第47-51页 |
| 4.1.1 混合模型监测器的工作原理 | 第47-48页 |
| 4.1.2 一种典型的混合老化监测器结构 | 第48-49页 |
| 4.1.3 边缘检测器的设计介绍 | 第49-50页 |
| 4.1.4 实验结果及分析 | 第50-51页 |
| 4.2 基于AT-CELL单元的自锁存老化度量结构设计 | 第51-53页 |
| 4.2.1 自锁存设计的提出 | 第51页 |
| 4.2.2 自锁存的环形振荡器原理和结构 | 第51-53页 |
| 4.3 实验仿真与结果分析 | 第53-54页 |
| 4.3.1 测量老化率的实验结果 | 第53页 |
| 4.3.2 实验精度分析 | 第53-54页 |
| 4.3.3 面积开销的分析 | 第54页 |
| 4.4 本章小结 | 第54-55页 |
| 第五章 结束语 | 第55-57页 |
| 5.1 全文总结 | 第55-56页 |
| 5.2 进一步工作 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-60页 |
| 攻读硕士学位期间的学术活动及成果情况 | 第60-61页 |