电平转换电路的NBTI老化分析和防护
| 致谢 | 第7-8页 |
| 摘要 | 第8-9页 |
| abstract | 第9页 |
| 第一章 绪论 | 第15-27页 |
| 1.1 课题研究背景 | 第15-22页 |
| 1.1.1 集成电路的发展 | 第15-16页 |
| 1.1.2 集成电路的可靠性 | 第16-21页 |
| 1.1.3 电平转换电路和其老化 | 第21-22页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第22-25页 |
| 1.2.1 NBTI补偿技术 | 第22-23页 |
| 1.2.2 NBTI缓解技术 | 第23-24页 |
| 1.2.3 电平转换电路老化研究 | 第24-25页 |
| 1.3 本文的主要工作和内容安排 | 第25-27页 |
| 第二章 研究工作基础 | 第27-37页 |
| 2.1 NBTI效应及建模 | 第27-31页 |
| 2.1.1 NBTI效应 | 第27-29页 |
| 2.1.2 NBTI效应的建模 | 第29-31页 |
| 2.2 电平转换电路基础 | 第31-34页 |
| 2.2.1 多电压系统 | 第31-32页 |
| 2.2.2 电平转换电路 | 第32-34页 |
| 2.3 HSPICE工具及模型 | 第34-36页 |
| 2.3.1 HSPICE仿真的基本框架 | 第34-35页 |
| 2.3.2 MOSRA模型 | 第35-36页 |
| 2.4 本章小结 | 第36-37页 |
| 第三章 CCLS的NBTI老化分析和容忍 | 第37-45页 |
| 3.1 研究动机与目的 | 第37页 |
| 3.2 传统CCLS电路工作原理 | 第37-38页 |
| 3.3 NBTI对传统CCLS电路的影响 | 第38-41页 |
| 3.4 改进的CCLS电平转换电路 | 第41-44页 |
| 3.5 本章小结 | 第44-45页 |
| 第四章 CMLS的NBTI老化分析和容忍 | 第45-55页 |
| 4.1 研究动机与目的 | 第45页 |
| 4.2 传统CMLS电路工作原理 | 第45-46页 |
| 4.3 NBTI对传统CMLS电路的影响 | 第46-50页 |
| 4.4 改进的CMLS电平转换电路 | 第50-53页 |
| 4.5 本章小结 | 第53-55页 |
| 第五章 结论与展望 | 第55-57页 |
| 5.1 研究工作总结 | 第55-56页 |
| 5.2 未来工作展望 | 第56-57页 |
| 参考文献 | 第57-61页 |
| 攻读硕士期间的学术活动及成果情况 | 第61-62页 |
