摘要 | 第4-6页 |
abstract | 第6-7页 |
第一章 绪论 | 第11-16页 |
1.1 研究背景与意义 | 第11-12页 |
1.2 光接收机国内外研究现状和发展趋势 | 第12-14页 |
1.2.1 化合物工艺集成光接收机 | 第12-13页 |
1.2.2 混合集成光接收机 | 第13页 |
1.2.3 CMOS工艺单片集成光接收机 | 第13-14页 |
1.3 论文研究内容与章节安排 | 第14-16页 |
第二章 光电探测器的理论研究 | 第16-25页 |
2.1 光电探测器的工作原理 | 第16-17页 |
2.2 光电探测器的性能参数 | 第17-21页 |
2.2.1 暗电流 | 第17页 |
2.2.2 量子效率 | 第17-18页 |
2.2.3 响应度 | 第18-19页 |
2.2.4 噪声 | 第19页 |
2.2.5 响应时间 | 第19-20页 |
2.2.6 带宽 | 第20-21页 |
2.3 与CMOS工艺兼容的光电探测器 | 第21-24页 |
2.3.1 NWELL/P-SUB或N+/P-SUB光电探测器 | 第21-22页 |
2.3.2 空间调制型光探测器 | 第22-23页 |
2.3.3 双光电探测探测器 | 第23-24页 |
2.4 本章小结 | 第24-25页 |
第三章 高速光电探测器的设计 | 第25-38页 |
3.1 高速光电探测器的结构与工作原理 | 第25-26页 |
3.2 高速光电探测器的仿真与分析 | 第26-34页 |
3.2.1 I-V特性 | 第26-28页 |
3.2.2 响应度 | 第28-30页 |
3.2.3 量子效率 | 第30-32页 |
3.2.4 带宽 | 第32-34页 |
3.3 高速光电探测器的版图与测试 | 第34-37页 |
3.3.1 高速光电探测器的版图 | 第34-35页 |
3.3.2 高速光电探测器的测试 | 第35-37页 |
3.4 本章小结 | 第37-38页 |
第四章 高响应度PIN光电探测器的设计 | 第38-53页 |
4.1 PIN光电探测器的结构与工作原理 | 第38-39页 |
4.2 PIN光电探测器的结构仿真与分析 | 第39-43页 |
4.2.1 本征层浓度对PIN光电探测器的影响 | 第39-41页 |
4.2.2 本征层厚度对PIN光电探测器的影响 | 第41-43页 |
4.3 PIN光电探测器的模型仿真与分析 | 第43-49页 |
4.3.1 I-V特性 | 第43-47页 |
4.3.2 寄生电容 | 第47-49页 |
4.4 PIN光电探测器的版图与测试 | 第49-51页 |
4.4.1 PIN光电探测器的版图 | 第49-50页 |
4.4.2 PIN光电探测器的测试 | 第50-51页 |
4.5 本章小结 | 第51-53页 |
第五章 前置放大器的研究 | 第53-74页 |
5.1 跨阻放大器的结构 | 第53-55页 |
5.2 跨阻放大器的性能参数 | 第55-58页 |
5.2.1 增益 | 第55-56页 |
5.2.2 带宽 | 第56-57页 |
5.2.3 增益灵敏度 | 第57页 |
5.2.4 输入电阻 | 第57页 |
5.2.5 输出电阻 | 第57-58页 |
5.3 常见的跨阻放大器电路结构 | 第58-63页 |
5.3.1 共源极跨阻放大器 | 第58-59页 |
5.3.2 共栅极跨阻放大器 | 第59-60页 |
5.3.3 RGC跨阻放大器 | 第60-63页 |
5.4 改进的RGC跨阻放大器 | 第63-65页 |
5.5 RGC跨阻放大器的仿真与分析 | 第65-70页 |
5.5.1 RGC输入级环路的仿真与分析 | 第65-66页 |
5.5.1.1 瞬态特性 | 第65页 |
5.5.1.2 幅频特性 | 第65-66页 |
5.5.2 后级跨阻放大器环路的仿真与分析 | 第66-67页 |
5.5.2.1 瞬态特性 | 第66-67页 |
5.5.2.2 幅频特性 | 第67页 |
5.5.3 RGC跨阻放大器整体电路的仿真与分析 | 第67-70页 |
5.5.3.1 瞬态特性 | 第67-68页 |
5.5.3.2 AC交流特性 | 第68-69页 |
5.5.3.3 噪声特性 | 第69-70页 |
5.6 跨阻放大器的版图与测试 | 第70-73页 |
5.6.1 版图绘制注意事项 | 第70-71页 |
5.6.1.1 闩锁效应 | 第70页 |
5.6.1.2 天线效应 | 第70-71页 |
5.6.1.3 寄生效应 | 第71页 |
5.6.1.4 版图布线布局技巧 | 第71页 |
5.6.2 跨阻放大器的版图 | 第71-72页 |
5.6.3 跨阻放大器的测试 | 第72-73页 |
5.7 本章小结 | 第73-74页 |
第六章 总结与展望 | 第74-76页 |
6.1 全文总结 | 第74-75页 |
6.2 工作展望 | 第75-76页 |
致谢 | 第76-77页 |
参考文献 | 第77-81页 |
作者攻硕期间取得的研究成果 | 第81页 |