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基于CMOS工艺的单片光电探测器及其放大电路设计

摘要第4-6页
abstract第6-7页
第一章 绪论第11-16页
    1.1 研究背景与意义第11-12页
    1.2 光接收机国内外研究现状和发展趋势第12-14页
        1.2.1 化合物工艺集成光接收机第12-13页
        1.2.2 混合集成光接收机第13页
        1.2.3 CMOS工艺单片集成光接收机第13-14页
    1.3 论文研究内容与章节安排第14-16页
第二章 光电探测器的理论研究第16-25页
    2.1 光电探测器的工作原理第16-17页
    2.2 光电探测器的性能参数第17-21页
        2.2.1 暗电流第17页
        2.2.2 量子效率第17-18页
        2.2.3 响应度第18-19页
        2.2.4 噪声第19页
        2.2.5 响应时间第19-20页
        2.2.6 带宽第20-21页
    2.3 与CMOS工艺兼容的光电探测器第21-24页
        2.3.1 NWELL/P-SUB或N+/P-SUB光电探测器第21-22页
        2.3.2 空间调制型光探测器第22-23页
        2.3.3 双光电探测探测器第23-24页
    2.4 本章小结第24-25页
第三章 高速光电探测器的设计第25-38页
    3.1 高速光电探测器的结构与工作原理第25-26页
    3.2 高速光电探测器的仿真与分析第26-34页
        3.2.1 I-V特性第26-28页
        3.2.2 响应度第28-30页
        3.2.3 量子效率第30-32页
        3.2.4 带宽第32-34页
    3.3 高速光电探测器的版图与测试第34-37页
        3.3.1 高速光电探测器的版图第34-35页
        3.3.2 高速光电探测器的测试第35-37页
    3.4 本章小结第37-38页
第四章 高响应度PIN光电探测器的设计第38-53页
    4.1 PIN光电探测器的结构与工作原理第38-39页
    4.2 PIN光电探测器的结构仿真与分析第39-43页
        4.2.1 本征层浓度对PIN光电探测器的影响第39-41页
        4.2.2 本征层厚度对PIN光电探测器的影响第41-43页
    4.3 PIN光电探测器的模型仿真与分析第43-49页
        4.3.1 I-V特性第43-47页
        4.3.2 寄生电容第47-49页
    4.4 PIN光电探测器的版图与测试第49-51页
        4.4.1 PIN光电探测器的版图第49-50页
        4.4.2 PIN光电探测器的测试第50-51页
    4.5 本章小结第51-53页
第五章 前置放大器的研究第53-74页
    5.1 跨阻放大器的结构第53-55页
    5.2 跨阻放大器的性能参数第55-58页
        5.2.1 增益第55-56页
        5.2.2 带宽第56-57页
        5.2.3 增益灵敏度第57页
        5.2.4 输入电阻第57页
        5.2.5 输出电阻第57-58页
    5.3 常见的跨阻放大器电路结构第58-63页
        5.3.1 共源极跨阻放大器第58-59页
        5.3.2 共栅极跨阻放大器第59-60页
        5.3.3 RGC跨阻放大器第60-63页
    5.4 改进的RGC跨阻放大器第63-65页
    5.5 RGC跨阻放大器的仿真与分析第65-70页
        5.5.1 RGC输入级环路的仿真与分析第65-66页
            5.5.1.1 瞬态特性第65页
            5.5.1.2 幅频特性第65-66页
        5.5.2 后级跨阻放大器环路的仿真与分析第66-67页
            5.5.2.1 瞬态特性第66-67页
            5.5.2.2 幅频特性第67页
        5.5.3 RGC跨阻放大器整体电路的仿真与分析第67-70页
            5.5.3.1 瞬态特性第67-68页
            5.5.3.2 AC交流特性第68-69页
            5.5.3.3 噪声特性第69-70页
    5.6 跨阻放大器的版图与测试第70-73页
        5.6.1 版图绘制注意事项第70-71页
            5.6.1.1 闩锁效应第70页
            5.6.1.2 天线效应第70-71页
            5.6.1.3 寄生效应第71页
            5.6.1.4 版图布线布局技巧第71页
        5.6.2 跨阻放大器的版图第71-72页
        5.6.3 跨阻放大器的测试第72-73页
    5.7 本章小结第73-74页
第六章 总结与展望第74-76页
    6.1 全文总结第74-75页
    6.2 工作展望第75-76页
致谢第76-77页
参考文献第77-81页
作者攻硕期间取得的研究成果第81页

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