| 目录 | 第1-4页 |
| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5-6页 |
| 第一章 引言 | 第6-9页 |
| ·背景 | 第6页 |
| ·电感对电路性能的影响 | 第6-9页 |
| 第二章 高频电路中电感对电路的影响 | 第9-12页 |
| ·频变效应 | 第9-12页 |
| ·趋肤效应 | 第9-10页 |
| ·邻近效应 | 第10页 |
| ·非理想衬底效应 | 第10-12页 |
| 第三章 片上电感提取的方法和局限性 | 第12-18页 |
| ·片上电感提取 | 第12-14页 |
| ·局部电感技术 | 第12页 |
| ·局部电感的局部性和矩阵密度 | 第12-14页 |
| ·电感抽取的挑战性 | 第14-15页 |
| ·电感矩阵稀疏化方法 | 第14-15页 |
| ·RLC抽取中的局部化需要 | 第15页 |
| ·使用者对电感抽取的控制和要求 | 第15-18页 |
| ·非直角型走线(non-manhattan) | 第16页 |
| ·电感网表 | 第16页 |
| ·选择性网络的电感 | 第16页 |
| ·不同频率下的建模 | 第16-17页 |
| ·提高寄生参数网表的效率 | 第17-18页 |
| 第四章 STAR-RCXT应用的新的解决方法-磁阻 | 第18-23页 |
| ·一种新的解决方法-磁阻 | 第18页 |
| ·磁阻的物理解释 | 第18-20页 |
| ·磁阻的优势 | 第20-21页 |
| ·频率效应 | 第21页 |
| ·列表和模拟 | 第21-23页 |
| ·列表和模拟 | 第22页 |
| ·通过对磁阻矩阵求逆来对标准电感和互感进行列表 | 第22-23页 |
| 第五章 实验及结果分析 | 第23-47页 |
| ·实验前的准备 | 第23-37页 |
| ·FastHenry | 第23页 |
| ·磁阻K的SPICE格式 | 第23-27页 |
| ·K的SPICE语法 | 第23-25页 |
| ·实例 | 第25-27页 |
| ·磁阻的SPEF格式 | 第27-29页 |
| ·SPEF语法 | 第27-28页 |
| ·实例 | 第28-29页 |
| ·Star-RCXT相关选项 | 第29-32页 |
| ·互联建模(ITF)选项 | 第29-30页 |
| ·Star-RCXT命令文件 | 第30-32页 |
| ·FastHenry输入文件的处理 | 第32-35页 |
| ·基本思想 | 第32-33页 |
| ·实例转换过程 | 第33-35页 |
| ·FastHenry输出文件的处理 | 第35-37页 |
| ·Star-RCXT输出文件的处理 | 第37页 |
| ·实验流程 | 第37-38页 |
| ·测试版图 | 第38-43页 |
| ·试验结果与分析 | 第43-46页 |
| ·与FastHenry的精度比较 | 第43-44页 |
| ·与FastHenry的运算时间比较 | 第44页 |
| ·运行Hspice实例 | 第44-46页 |
| ·小结 | 第46-47页 |
| 第六章 总结与展望 | 第47-48页 |
| 参考文献 | 第48-50页 |
| 后记 | 第50-51页 |
| 附件1 | 第51-55页 |