| 摘要 | 第1-6页 |
| Abstract | 第6-15页 |
| 第1章 绪论 | 第15-37页 |
| ·课题背景及其研究意义 | 第15-18页 |
| ·集成电路可测性设计技术 | 第18-25页 |
| ·故障模型 | 第18-19页 |
| ·测试向量生成 | 第19-20页 |
| ·扫描测试 | 第20-21页 |
| ·内建自测试技术 | 第21-24页 |
| ·SoC系统测试结构 | 第24-25页 |
| ·低功耗测试技术研究现状 | 第25-33页 |
| ·低功耗外部测试技术 | 第26-28页 |
| ·低功耗内建自测试技术 | 第28-31页 |
| ·测试规划技术 | 第31-33页 |
| ·论文主要研究内容 | 第33-35页 |
| ·论文结构 | 第35-37页 |
| 第2章 低功耗单输入变化测试序列种子选取技术 | 第37-65页 |
| ·引言 | 第37-38页 |
| ·动态测试功耗分析 | 第38-40页 |
| ·低功耗SIC测试序列模型建立与理论分析 | 第40-47页 |
| ·SIC测试序列生成的基本原理 | 第41-42页 |
| ·SIC测试序列模型建立与特性研究 | 第42-46页 |
| ·SIC序列动态测试功耗分析 | 第46-47页 |
| ·SSIC测试序列种子选取算法和序列发生器设计 | 第47-57页 |
| ·SSIC测试序列理论描述和特性分析 | 第47-50页 |
| ·SSIC测试序列种子选取算法 | 第50-53页 |
| ·SSIC测试序列发生器的硬件实现 | 第53-54页 |
| ·实验结果与分析 | 第54-57页 |
| ·双种子优化的低功耗SIC测试序列发生器设计 | 第57-63页 |
| ·SIC测试序列种子与变化位种子协同选取算法 | 第57-61页 |
| ·实验结果与分析 | 第61-63页 |
| ·本章小结 | 第63-65页 |
| 第3章 基于CA的低功耗确定TPG综合算法研究 | 第65-94页 |
| ·引言 | 第65-66页 |
| ·细胞自动机基本原理 | 第66-73页 |
| ·细胞自动机的提出 | 第66-67页 |
| ·细胞自动机的基本概念 | 第67-71页 |
| ·细胞自动机的理论特性分析 | 第71-73页 |
| ·基于邻域扩展技术的低功耗确定向量发生器综合算法设计 | 第73-84页 |
| ·低功耗确定TPG研究 | 第73-74页 |
| ·非对称邻居模型的提出 | 第74-77页 |
| ·基于模拟退火的邻域扩展技技术 | 第77-80页 |
| ·实验结果及分析 | 第80-84页 |
| ·采用最近邻矩阵的基于CA的低功耗确定TPG综合算法 | 第84-92页 |
| ·最近邻模型的建立与分析 | 第84-87页 |
| ·基于最近邻计算矩阵的CA综合算法实现 | 第87-89页 |
| ·实验结果及分析 | 第89-92页 |
| ·本章小结 | 第92-94页 |
| 第4章 系统级温度评估模型设计与温度意识测试规划技术研究 | 第94-128页 |
| ·引言 | 第94页 |
| ·系统级温度意识测试规划技术的提出 | 第94-96页 |
| ·系统级温度模型理论基础 | 第96-106页 |
| ·等效热RC温度计算法 | 第97-99页 |
| ·导热问题研究的理论基础 | 第99-102页 |
| ·数值热传导理论基础 | 第102-106页 |
| ·基于数值热传导理论的温度评估模型 | 第106-117页 |
| ·SoC系统级温度模型建立 | 第107-115页 |
| ·实验结果及分析 | 第115-117页 |
| ·基于GA的温度意识的测试规划方案 | 第117-126页 |
| ·遗传编码方案和遗传操作设计 | 第117-119页 |
| ·基于GA的温度意识测试规划算法设计 | 第119-122页 |
| ·实验结果及分析 | 第122-126页 |
| ·本章小结 | 第126-128页 |
| 结论 | 第128-130页 |
| 参考文献 | 第130-141页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第141-143页 |
| 致谢 | 第143页 |
