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氯氩感应耦合等离子体脉冲调制射频偏压对原子层刻蚀影响的研究

摘要第2-4页
Abstract第4页
1 绪论第7-14页
    1.1 研究背景及意义第7-10页
    1.2 等离子体刻蚀的研究进展第10-12页
    1.3 本文研究内容及结构安排第12-14页
2 模型介绍第14-23页
    2.1 反应腔室模型第14-17页
    2.2 混合鞘层模型第17-20页
    2.3 刻蚀槽模型第20-23页
3 脉冲等离子体源参数对腔室离子密度及极板处IEDs和IADs的 影响第23-37页
    3.1 脉冲等离子体源参数对腔室离子密度分布的影响第24-28页
    3.2 脉冲等离子体源参数对极板处离子能量和角度分布的影响第28-36页
    3.3 本章小结第36-37页
4 ICP腔室离子密度分布及极板处的IEDs和IADs第37-50页
    4.1 ICP腔室离子密度分布情况第37-39页
    4.2 外部参数条件对极板处离子能量分布和角度分布的影响第39-48页
    4.3 本章小结第48-50页
5 不同外部参数条件下的刻蚀槽形貌演化第50-56页
    5.1 放电参数对刻蚀槽形貌剖面演化的影响第50-55页
    5.2 本章小结第55-56页
结论与展望第56-57页
参考文献第57-61页
攻读硕士学位期间发表学术论文情况第61-62页
致谢第62-64页

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