用于单片集成传感器的逐次逼近模数转换器的设计
| 摘要 | 第2-3页 |
| Abstract | 第3页 |
| 1 绪论 | 第6-11页 |
| 1.1 选题背景 | 第6页 |
| 1.2 砷化铟纳米线简介 | 第6-7页 |
| 1.3 InAs传感器电路简介 | 第7-8页 |
| 1.4 国内外研究现状 | 第8-10页 |
| 1.5 本文主要工作 | 第10-11页 |
| 2 模数转换器概述 | 第11-23页 |
| 2.1 模数转换器的性能指标 | 第12-14页 |
| 2.1.1 静态参数 | 第12-13页 |
| 2.1.2 动态参数 | 第13-14页 |
| 2.2 主要模数转换器结构 | 第14-21页 |
| 2.2.1 快闪式（Flash）模数转换器 | 第14-15页 |
| 2.2.2 折叠内插式模数转换器 | 第15-17页 |
| 2.2.3 流水线型模数转换器 | 第17-18页 |
| 2.2.4 逐次逼近型模数转换器 | 第18-20页 |
| 2.2.5 Σ-Δ模数转换器 | 第20-21页 |
| 2.3 本章小结 | 第21-23页 |
| 3 SAR ADC中DAC的结构与开关策略 | 第23-32页 |
| 3.1 DAC主要结构 | 第23-27页 |
| 3.1.1 电压按比例缩放型 | 第23-24页 |
| 3.1.2 电流按比例缩放型 | 第24-25页 |
| 3.1.3 电荷按比例缩放型 | 第25-27页 |
| 3.2 模数转换器的开关策略 | 第27-32页 |
| 3.2.1 传统式开关策略 | 第27-29页 |
| 3.2.2 单调式开关策略 | 第29-30页 |
| 3.2.3 基于Vcm式开关策略 | 第30-32页 |
| 4 SAR ADC主要电路模块设计 | 第32-44页 |
| 4.1 逐次逼近模数转换器工作原理 | 第32-33页 |
| 4.2 DAC电容阵列的设计 | 第33-36页 |
| 4.2.1 DAC电容阵列结构 | 第33-35页 |
| 4.2.2 电容阵列寄生电容分析 | 第35-36页 |
| 4.3 比较器的设计 | 第36-39页 |
| 4.3.1 比较器结构 | 第36-38页 |
| 4.3.2 比较器仿真结果 | 第38-39页 |
| 4.4 逐次逼近算法电路的设计 | 第39-40页 |
| 4.5 寄存器控制逻辑电路的设计 | 第40页 |
| 4.6 采样开关的设计 | 第40-44页 |
| 4.6.1 开关的导通电阻 | 第40-41页 |
| 4.6.2 采样开关的设计 | 第41-44页 |
| 5 模数转换器版图设计与仿真 | 第44-50页 |
| 5.1 版图设计 | 第44-47页 |
| 5.1.1 工艺库简介 | 第44页 |
| 5.1.2 整体布局 | 第44-45页 |
| 5.1.3 DAC版图 | 第45-46页 |
| 5.1.4 比较器版图 | 第46-47页 |
| 5.2 模数转换器仿真结果 | 第47-50页 |
| 5.2.1 DAC仿真 | 第47-48页 |
| 5.2.2 整体电路静态仿真 | 第48页 |
| 5.2.3 整体电路动态仿真 | 第48-50页 |
| 结论 | 第50-51页 |
| 参考文献 | 第51-54页 |
| 攻读硕士学位期间发表学术论文情况 | 第54-55页 |
| 致谢 | 第55-57页 |
