贴片机片式芯片检测系统的研究
摘要 | 第4-5页 |
Abstract | 第5-6页 |
第1章 绪论 | 第9-15页 |
1.1 课题背景及研究的目的和意义 | 第9-10页 |
1.1.1 课题背景 | 第9-10页 |
1.1.2 研究的目的和意义 | 第10页 |
1.2 贴片机芯片检测系统 | 第10-12页 |
1.3 国内外研究现状 | 第12-13页 |
1.3.1 国内研究现状 | 第12页 |
1.3.2 国外研究现状 | 第12-13页 |
1.4 本文主要研究内容 | 第13-15页 |
第2章 芯片粗定位算法 | 第15-33页 |
2.1 概述 | 第15-17页 |
2.2 预处理环节 | 第17-25页 |
2.2.1 高斯平滑滤波算法 | 第18-21页 |
2.2.2 基于 otsu 方法的二值化算法 | 第21-25页 |
2.3 边缘提取环节 | 第25-28页 |
2.3.1 边缘提取算法 | 第25-26页 |
2.3.2 基于形态学的边缘提取算法 | 第26-28页 |
2.3.3 实验结果 | 第28页 |
2.4 吸嘴头定位环节 | 第28-32页 |
2.4.1 hough 直线变换算法原理 | 第29-30页 |
2.4.2 快速 hough 圆变换算法 | 第30-31页 |
2.4.3 实验结果 | 第31-32页 |
2.5 本章小结 | 第32-33页 |
第3章 芯片识别算法 | 第33-48页 |
3.1 概述 | 第33页 |
3.2 预处理算法 | 第33-37页 |
3.2.1 二值化算法 | 第33-34页 |
3.2.2 最大连通区域滤波算法 | 第34-36页 |
3.2.3 基于形态学的闭操作 | 第36-37页 |
3.3 基于矩形度的芯片识别算法 | 第37-39页 |
3.3.1 矩形度的定义及计算方法 | 第37-38页 |
3.3.2 算法分析 | 第38-39页 |
3.4 基于区域致密性的芯片识别算法 | 第39-42页 |
3.4.1 区域致密性的定义及其算法 | 第39-40页 |
3.4.2 算法分析 | 第40-42页 |
3.5 基于不变矩的芯片识别算法 | 第42-47页 |
3.5.1 二维离散函数的矩 | 第42-43页 |
3.5.2 二维函数的不变矩 | 第43-44页 |
3.5.3 矩形的矩 | 第44-45页 |
3.5.4 算法分析 | 第45-47页 |
3.6 本章小结 | 第47-48页 |
第4章 芯片精确定位算法 | 第48-62页 |
4.1 概述 | 第48-49页 |
4.2 边缘跟踪算法 | 第49-55页 |
4.2.1 基本概念 | 第49页 |
4.2.2 边缘、连通区域与包围性 | 第49-51页 |
4.2.3 边缘跟踪算法 | 第51-54页 |
4.2.4 仅提取最外层边缘的边缘跟踪算法 | 第54-55页 |
4.2.5 实验结果 | 第55页 |
4.3 提取最小外接矩形 | 第55-61页 |
4.3.1 基本概念 | 第55-56页 |
4.3.2 提取简单多边形的凸包 | 第56-59页 |
4.3.3 获取矩形参数 | 第59-61页 |
4.3.4 提取结果 | 第61页 |
4.4 本章小节 | 第61-62页 |
结论 | 第62-63页 |
参考文献 | 第63-66页 |
攻读硕士学位期间发表的论文及其它成果 | 第66-68页 |
致谢 | 第68页 |