基于ATPG的电路抗老化输入矢量控制研究
| 致谢 | 第7-8页 |
| 摘要 | 第8-9页 |
| ABSTRACT | 第9-10页 |
| 第一章 绪论 | 第15-22页 |
| 1.1 课题研究背景与意义 | 第15-19页 |
| 1.1.1 集成电路老化效应 | 第15-16页 |
| 1.1.2 老化现象的物理机制 | 第16-19页 |
| 1.2 国内外研究现状 | 第19页 |
| 1.3 本文的课题来源和主要工作 | 第19-21页 |
| 1.4 本文的章节安排 | 第21-22页 |
| 第二章 老化模型及研究方法 | 第22-29页 |
| 2.1 老化仿真建模 | 第22-25页 |
| 2.1.1 NBTI效应 | 第22-24页 |
| 2.1.2 晶体管和逻辑门老化模型 | 第24-25页 |
| 2.2 研究方法 | 第25-28页 |
| 2.2.1 ATPG工具在抗老化研究中应用 | 第25-27页 |
| 2.2.2 电路建模及老化仿真方法 | 第27-28页 |
| 2.2.3 HSPICE仿真工具 | 第28页 |
| 2.3 本章小结 | 第28-29页 |
| 第三章 抗老化故障插入及关键门选取方法 | 第29-46页 |
| 3.1 抗老化的故障插入原理 | 第29-34页 |
| 3.1.1 考虑晶体管堆叠效应的故障插入 | 第30-32页 |
| 3.1.2 逻辑门种类对故障插入的影响 | 第32-34页 |
| 3.2 在关键门上插入固定故障 | 第34-38页 |
| 3.2.1 老化关键路径的生成 | 第34-37页 |
| 3.2.2 老化关键门的选取 | 第37-38页 |
| 3.3 使用Atalanta工具生成输入矢量集合 | 第38-41页 |
| 3.3.1 故障列表生成算法 | 第38-40页 |
| 3.3.2 生成抗老化的输入矢量集合 | 第40-41页 |
| 3.4 实验结果与分析 | 第41-45页 |
| 3.5 本章小结 | 第45-46页 |
| 第四章 静态时序分析及IVC控制电路的硬件实现 | 第46-55页 |
| 4.1 电路老化时序分析算法 | 第46-48页 |
| 4.2 IVC扫描链电路的设计 | 第48-51页 |
| 4.2.1 板级输入矢量控制电路设计 | 第49-50页 |
| 4.2.2 芯片级输入矢量扫描链实现 | 第50-51页 |
| 4.3 实验结果与分析 | 第51-54页 |
| 4.4 本章小结 | 第54-55页 |
| 第五章 总结与展望 | 第55-57页 |
| 5.1 工作总结 | 第55页 |
| 5.2 工作展望 | 第55-57页 |
| 参考文献 | 第57-61页 |
| 攻读硕士期间的学术活动及成果情况 | 第61页 |
