高背板中互连的研究
致谢 | 第1-3页 |
摘要 | 第3-4页 |
Abstract | 第4-8页 |
第一章 绪论 | 第8-35页 |
·论文思路 | 第8-9页 |
·用电磁场理论分析高速互连的意义 | 第9-10页 |
·高速互连的工作带宽 | 第10-18页 |
·电磁波谱图 | 第18-19页 |
·互连的电磁场分析 | 第19-35页 |
·准TEM近似 | 第20-28页 |
·有源场的辐射 | 第28-35页 |
第二章 互连媒体的基本讨论 | 第35-58页 |
·互连媒体基本概念 | 第35-36页 |
·互连线的物理基础 | 第36-44页 |
·返回路径 | 第36页 |
·传输线上的信号 | 第36-37页 |
·铜导体中的电子速度 | 第37-38页 |
·传输线上信号速度 | 第38-39页 |
·传输线的第一次近似 | 第39-41页 |
·传输线的第二次近似 | 第41-42页 |
·传输线基本模型 | 第42-44页 |
·特征阻抗Z_c | 第44-46页 |
·传输系数γ | 第46-48页 |
·信号速度 | 第48-49页 |
·直流阻抗 | 第49-50页 |
·趋肤效应 | 第50-53页 |
·趋肤效应产生原理 | 第50-52页 |
·趋肤效应对应阻抗的估计 | 第52-53页 |
·介质损耗 | 第53-58页 |
·损耗源 | 第53-55页 |
·损耗角 | 第55-58页 |
第三章 特征区域划分 | 第58-89页 |
·信号衰减 | 第58-59页 |
·特征区域划分 | 第59-61页 |
·系统增益 | 第61-62页 |
·集总化(Lumped-Element)区域 | 第62-67页 |
·集总化区域边界 | 第63页 |
·输入阻抗 | 第63-65页 |
·系统增益 | 第65-67页 |
·RC区域 | 第67-71页 |
·RC区域边界 | 第67-68页 |
·输入阻抗 | 第68-69页 |
·特征阻抗 | 第69页 |
·系统增益 | 第69-71页 |
·LC区域 | 第71-77页 |
·边界条件 | 第71-72页 |
·特征阻抗 | 第72-73页 |
·传输系数 | 第73-74页 |
·共振现象的讨论 | 第74-75页 |
·共振的消除 | 第75-77页 |
·趋肤效应(Skin-Effect)区域 | 第77-82页 |
·边界条件 | 第77-78页 |
·特征阻抗 | 第78-79页 |
·传输系数 | 第79-80页 |
·传输函数和阶跃响应 | 第80-82页 |
·介质损耗区域 | 第82-87页 |
·特征阻抗 | 第82-83页 |
·传输系数 | 第83-85页 |
·信号衰减和边界条件 | 第85-86页 |
·传输系数和阶跃响应 | 第86-87页 |
·高速背板中的区域实例 | 第87-89页 |
第四章 多导体的串扰 | 第89-102页 |
·多导体的串扰 | 第89页 |
·串扰的可叠加性 | 第89-90页 |
·耦合源 | 第90-91页 |
·场仿真器 | 第91页 |
·电容矩阵 | 第91-94页 |
·电感矩阵 | 第94-95页 |
·串扰感应噪声 | 第95-99页 |
·近端串扰噪声 | 第97-98页 |
·远端串扰噪声 | 第98-99页 |
·防护线 | 第99-102页 |
第五章 差分对的讨论 | 第102-116页 |
·差分对的概述 | 第102-103页 |
·差分对上的阻抗 | 第103-108页 |
·无耦合的情况 | 第103-104页 |
·耦合时的差分对阻抗 | 第104-107页 |
·差分阻抗与共模阻抗 | 第107-108页 |
·差分对返回电流的影响 | 第108-111页 |
·差分对的串扰 | 第111-112页 |
·差分微带线和差分带状线的选择 | 第112-116页 |
第六章 背板互连中共模辐射的研究 | 第116-137页 |
·电磁干扰概述 | 第116页 |
·辐射的物理原理 | 第116-118页 |
·背板中互连的共模辐射 | 第118-137页 |
·数值计算的切入点 | 第119-121页 |
·模型的建立 | 第121-122页 |
·共模电感的计算 | 第122-123页 |
·单根互连的讨论 | 第123-127页 |
·差分对的共模电感 | 第127-130页 |
·共模电压(电流不平衡因子k的影响) | 第130-131页 |
·共模辐射 | 第131-137页 |
结束语 | 第137-138页 |
参考文献 | 第138-143页 |
攻读博士学位期间发表的文章 | 第143页 |