| 摘要 | 第5-7页 |
| ABSTRACT | 第7-8页 |
| 符号对照表 | 第12-13页 |
| 缩略语对照表 | 第13-17页 |
| 第一章 绪论 | 第17-21页 |
| 1.1 集成电路测试的意义 | 第17页 |
| 1.2 集成电路测试的分类 | 第17-18页 |
| 1.3 行业现状和发展方向 | 第18页 |
| 1.4 论文内容及结构安排 | 第18-21页 |
| 第二章 集成电路测试技术 | 第21-27页 |
| 2.1 集成电路测试中缺陷、失效和故障的关系 | 第21-22页 |
| 2.2 常见故障模型及测试方法 | 第22-24页 |
| 2.2.1 Stuck-at故障模型及测试 | 第22-23页 |
| 2.2.2 Stuck-open和Stuck-on故障模型 | 第23-24页 |
| 2.2.3 转换故障模型（Transition Fault） | 第24页 |
| 2.2.4 桥接故障模型（Bridge Fault） | 第24页 |
| 2.3 集成电路可测性设计概述 | 第24-26页 |
| 2.3.1 可测性的定义 | 第24-25页 |
| 2.3.2 可测性设计的目标 | 第25页 |
| 2.3.3 主要的可测性设计方法 | 第25-26页 |
| 2.4 本章小结 | 第26-27页 |
| 第三章 USB通信协议介绍 | 第27-35页 |
| 3.1 USB接口的发展演变 | 第27-28页 |
| 3.2 总线组成部分 | 第28-29页 |
| 3.2.1 USB总线拓扑结构 | 第28页 |
| 3.2.2 USB总线传输方式 | 第28-29页 |
| 3.3 传输要素 | 第29-33页 |
| 3.3.1 端点 | 第29页 |
| 3.3.2 事务 | 第29-30页 |
| 3.3.3 状态与控制 | 第30-31页 |
| 3.3.4 传输类型 | 第31-32页 |
| 3.3.5 流管道和消息管道 | 第32-33页 |
| 3.4 枚举 | 第33-34页 |
| 3.4.1 枚举过程 | 第33页 |
| 3.4.2 超高速设备枚举 | 第33-34页 |
| 3.5 本章小结 | 第34-35页 |
| 第四章 基于FPGA的USB模块原型验证 | 第35-59页 |
| 4.1 FPGA平台介绍 | 第35-36页 |
| 4.1.1 硬件平台简介 | 第35页 |
| 4.1.2 ISE简介 | 第35-36页 |
| 4.2 FPGA时钟部分实现 | 第36-43页 |
| 4.2.1 时钟树调整 | 第36-37页 |
| 4.2.2 FPGA时钟芯片简介 | 第37-39页 |
| 4.2.3 时钟芯片配置 | 第39-43页 |
| 4.3 基于FPGA的原型验证技术 | 第43-50页 |
| 4.3.1 原型验证的流程 | 第44-46页 |
| 4.3.2 从ASIC到FPGA的代码移植 | 第46-47页 |
| 4.3.3 代码转换的实现 | 第47-49页 |
| 4.3.4 生成配置文件 | 第49-50页 |
| 4.4 USB模块测试 | 第50-58页 |
| 4.4.1 枚举过程中的控制传输 | 第50-55页 |
| 4.4.2 枚举过程测试结果 | 第55-58页 |
| 4.5 本章小结 | 第58-59页 |
| 第五章 USB模块的测试 | 第59-69页 |
| 5.1 MCU USB模块介绍 | 第59-61页 |
| 5.1.1 MCU USB模块的概述 | 第59页 |
| 5.1.2 缓冲区描述表（Buffer Descriptor Table） | 第59-61页 |
| 5.2 测试平台介绍 | 第61页 |
| 5.3 测试电路设计 | 第61-62页 |
| 5.3.1 测试板的电源电压与接地 | 第61页 |
| 5.3.2 测试板时钟信号 | 第61-62页 |
| 5.4 USB模块测试 | 第62-67页 |
| 5.4.1 USB批量传输方式介绍 | 第62-64页 |
| 5.4.2 测试方案的设计 | 第64页 |
| 5.4.3 测试向量和测试设备 | 第64-65页 |
| 5.4.4 测试结果分析 | 第65-67页 |
| 5.5 本章小结 | 第67-69页 |
| 第六章 总结与展望 | 第69-71页 |
| 参考文献 | 第71-73页 |
| 致谢 | 第73-75页 |
| 作者简介 | 第75-76页 |
