65纳米输入输出单元库研究和开发
| 摘要 | 第1-5页 |
| Abstract | 第5-7页 |
| 第一章 绪论 | 第7-12页 |
| ·研究动机与目的 | 第7-10页 |
| ·输入输出接口遇到的挑战 | 第7-8页 |
| ·ESD遇到的挑战 | 第8-10页 |
| ·输入输出库介绍 | 第10-11页 |
| ·论文架构 | 第11-12页 |
| 第二章 I/O设计及ESD防护的研究 | 第12-20页 |
| ·JEDEC标准 | 第12-13页 |
| ·JEDEC逻辑器件标准 | 第12页 |
| ·EDEC数字电路接口标准 | 第12-13页 |
| ·ESD测试模式 | 第13-16页 |
| ·人体放电模式(HBM) | 第13-14页 |
| ·机器放电模式(MM) | 第14-15页 |
| ·元件充电模式(CDM) | 第15-16页 |
| ·电场感应模式(FIM) | 第16页 |
| ·常用ESD防护元件和电路的研究 | 第16-20页 |
| 第三章 输入输出单元的设计及仿真结果 | 第20-43页 |
| ·输入输出单元介绍 | 第20-22页 |
| ·直流和交流特性 | 第22-26页 |
| ·直流特性 | 第22-24页 |
| ·交流特性 | 第24-26页 |
| ·输出级 | 第26-28页 |
| ·电平转换器 | 第28-31页 |
| ·输入级 | 第31-40页 |
| ·上下拉电阻 | 第40页 |
| ·前置驱动器 | 第40-42页 |
| ·单元版图布局 | 第42-43页 |
| 第四章 ESD防护电路设计和版图 | 第43-55页 |
| ·简介 | 第43-44页 |
| ·电源和地单元 | 第44-51页 |
| ·电源分割单元 | 第51-55页 |
| 第五章 性能及ESD实验结果 | 第55-66页 |
| ·测试芯片的设计 | 第55-56页 |
| ·性能测试芯片的设计 | 第55页 |
| ·ESD测试芯片的设计 | 第55-56页 |
| ·测试环境 | 第56-57页 |
| ·性能测试结果及分析 | 第57-64页 |
| ·IV特性测试结果 | 第57-60页 |
| ·AC特性测试结果 | 第60-64页 |
| ·AC特性测试结果分析及设计改善 | 第64页 |
| ·ESD测试结果及分析 | 第64-66页 |
| 第六章 结论与展望 | 第66-68页 |
| ·结论 | 第66页 |
| ·展望 | 第66-68页 |
| 参考文献 | 第68-70页 |
| 致谢 | 第70-71页 |
