| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-6页 |
| 第一章 绪论 | 第6-12页 |
| ·FPGA 芯片介绍 | 第6页 |
| ·集成电路可测性设计概念介绍 | 第6-8页 |
| ·课题提出的背景及意义 | 第8-10页 |
| ·论文的主要内容及章节安排 | 第10-12页 |
| 第二章 Virtex系列 FPGA 结构与可测性分析 | 第12-26页 |
| ·Virtex 系列 FPGA 整体结构 | 第12-15页 |
| ·Virtex 系列 FPGA 互连结构 | 第15-25页 |
| ·互连线结构 | 第16-22页 |
| ·可编程开关矩阵 | 第22-25页 |
| ·本章小结 | 第25-26页 |
| 第三章 FPGA 互连线测试实现 | 第26-50页 |
| ·FPGA 测试技术 | 第26-29页 |
| ·内建自测试技术 | 第26-28页 |
| ·基于 BIST 的 FPGA 测试技术 | 第28-29页 |
| ·互连线故障模型设计 | 第29-31页 |
| ·Virtex 系列 FPGA 测试路径设计 | 第31-47页 |
| ·Single 线的 WUT 配置 | 第31-38页 |
| ·Hex 线的 WUT 配置 | 第38-46页 |
| ·Long 线的 WUT 配置 | 第46-47页 |
| ·诊断测试方案与生产测试方案设计 | 第47-49页 |
| ·诊断测试与生产测试介绍 | 第47-48页 |
| ·方案设计 | 第48-49页 |
| ·本章小结 | 第49-50页 |
| 第四章 测试结果与分析 | 第50-54页 |
| ·板级测试 | 第50-51页 |
| ·机台测试 | 第51-52页 |
| ·本章小结 | 第52-54页 |
| 第五章 总结 | 第54-56页 |
| 致谢 | 第56-58页 |
| 参考文献 | 第58-62页 |
| 研究成果 | 第62-63页 |