摘要 | 第5-6页 |
ABSTRACT | 第6-7页 |
缩略语对照表 | 第11-14页 |
第一章 绪论 | 第14-18页 |
1.1 课题研究背景和意义 | 第14-16页 |
1.1.1 国内外研究现状 | 第14-15页 |
1.1.2 选题意义 | 第15-16页 |
1.2 课题来源与论文章节安排 | 第16-18页 |
第二章 验证方法学及验证原理 | 第18-36页 |
2.1 验证技术介绍 | 第18页 |
2.2 验证计划 | 第18-19页 |
2.2.1 验证的流程 | 第18-19页 |
2.2.2 验证的目标 | 第19页 |
2.2.3 验证层次 | 第19页 |
2.3 X芯片的功能验证策略 | 第19-34页 |
2.3.1 功能点的提取 | 第20-23页 |
2.3.2 搭建验证平台 | 第23-25页 |
2.3.3 PCI验证平台 | 第25-29页 |
2.3.4 PCIe验证平台 | 第29-31页 |
2.3.5 4大类事务注意事项及其应用 | 第31-34页 |
2.4 本章小结 | 第34-36页 |
第三章X芯片功能和架构 | 第36-62页 |
3.1 X芯片功能模块 | 第36页 |
3.2 PCI/PCIe协议概述 | 第36-43页 |
3.2.1 PCI协议 | 第36-39页 |
3.2.2 PCIe协议 | 第39-43页 |
3.3 PCIe终端接口 | 第43页 |
3.4 PCI总线接口 | 第43-44页 |
3.5 芯片X的数据传输路径 | 第44-45页 |
3.6 芯片X的桥操作 | 第45-60页 |
3.6.1 桥操作方式 | 第45-46页 |
3.6.2 正向桥中PCIe到PCI的转发 | 第46-52页 |
3.6.3 正向桥中PCI到PCIe的转发 | 第52-57页 |
3.6.4 正向桥PCI事务结束 | 第57-60页 |
3.7 本章小结 | 第60-62页 |
第四章 整体验证 | 第62-94页 |
4.1 功能仿真 | 第62-80页 |
4.1.1 验证流程 | 第62页 |
4.1.2 验证环境 | 第62-64页 |
4.1.3 验证平台 | 第64-67页 |
4.1.4 功能验证 | 第67-80页 |
4.2 覆盖率分析 | 第80-92页 |
4.2.1 TOP层的代码覆盖率 | 第80-82页 |
4.2.2 IO层(I__1)的覆盖情况 | 第82页 |
4.2.3 CORE层(I__0)的覆盖情况 | 第82-84页 |
4.2.4 SRAM1(I__104687 和I__104688) | 第84-85页 |
4.2.5 SRAM2(I__70253) | 第85-87页 |
4.2.6 SRAM3(I__70592) | 第87-88页 |
4.2.7 SRAM4(I__69904) | 第88-90页 |
4.2.8 BLK1(I__11) | 第90页 |
4.2.9 数据通路(Datapath) | 第90-92页 |
4.3 本章小结 | 第92-94页 |
第五章 总结与展望 | 第94-96页 |
5.1 工作总结 | 第94页 |
5.2 展望 | 第94-96页 |
参考文献 | 第96-98页 |
致谢 | 第98-100页 |
作者简介 | 第100-101页 |