| 摘要 | 第1-4页 |
| Abstract | 第4-5页 |
| 引言 | 第5-7页 |
| 第一章 问题的提出和现象描述 | 第7-14页 |
| 第一节 RFID产品简介 | 第7-9页 |
| 第二节 ESD简介 | 第9-11页 |
| 第三节 EEPROM简介 | 第11-13页 |
| 第四节 问题的提出和现象描述 | 第13-14页 |
| 第二章 问题的分析和定位 | 第14-25页 |
| 第一节 失效样片的功能和性能测试 | 第14-17页 |
| 第二节 失效分析实验及定位 | 第17-25页 |
| 第三章 改进措施及效果确认 | 第25-47页 |
| 第一节 设计改进与工艺调整 | 第25-39页 |
| 第二节 改进效果确认 | 第39-46页 |
| 第三节 改进效果综述 | 第46-47页 |
| 第四章 总结与结论 | 第47-49页 |
| 致谢 | 第49-50页 |
| 参考文献 | 第50-51页 |