| 摘要 | 第4-5页 |
| ABSTRACT | 第5页 |
| 缩略词 | 第10-11页 |
| 第一章 绪论 | 第11-16页 |
| 1.1 引言 | 第11-12页 |
| 1.2 本课题的意义 | 第12-13页 |
| 1.3 在线测试方法的国内外研究现状 | 第13-14页 |
| 1.4 本文主要的研究内容及组织结构 | 第14-16页 |
| 第二章 集成电路测试方法研究 | 第16-24页 |
| 2.1 电路故障模型 | 第16-17页 |
| 2.2 基于扫描的在线测试方法 | 第17-18页 |
| 2.3 内建自测试BIST方法 | 第18-20页 |
| 2.4 SBST在线测试方法 | 第20-22页 |
| 2.4.1 SBST方法的测试流程 | 第21页 |
| 2.4.2 SBST方法的优势 | 第21-22页 |
| 2.4.3 功能型SBST与结构型SBST | 第22页 |
| 2.5 本章小结 | 第22-24页 |
| 第三章 基于微处理器的LVDT解调电路在线测试架构 | 第24-31页 |
| 3.1 微处理器架构及相关技术 | 第24-27页 |
| 3.1.1 MIPS微处理器体系结构 | 第24-26页 |
| 3.1.2 CPU相关技术 | 第26-27页 |
| 3.2 LVDT解调电路 | 第27-28页 |
| 3.3 基于微处理器的LVDT解调电路在线测试架构 | 第28-30页 |
| 3.4 本章小结 | 第30-31页 |
| 第四章 基于SBST的LVDT解调电路测试流程 | 第31-48页 |
| 4.1 基于SBST的MIPS处理器自测试 | 第31-39页 |
| 4.1.1 存储器测试方案 | 第31-33页 |
| 4.1.2 逻辑运算单元测试方案 | 第33-36页 |
| 4.1.3 寄存器组测试方案 | 第36-37页 |
| 4.1.4 流水线逻辑测试方案 | 第37-39页 |
| 4.2 基于SBST的LVDT解调电路存储器测试 | 第39-40页 |
| 4.3 基于SBST的LVDT解调电路滤波模块和控制模块测试 | 第40-45页 |
| 4.3.1 运用DFT Compiler插入扫描链 | 第42-44页 |
| 4.3.2 运用TetraMAX生成测试向量 | 第44-45页 |
| 4.3.3 基于测试向量的测试程序开发 | 第45页 |
| 4.4 测试系统调度方案 | 第45-47页 |
| 4.5 本章小结 | 第47-48页 |
| 第五章 基于SBST的LVDT解调电路在线测试方案的验证 | 第48-58页 |
| 5.1 测试仿真数据 | 第48-55页 |
| 5.1.1 MIPS微处理器存储器自测试 | 第48-50页 |
| 5.1.2 MIPS微处理器寄存器组自测试 | 第50-51页 |
| 5.1.3 MIPS微处理器流水线逻辑自测试 | 第51-52页 |
| 5.1.4 LVDT解调电路的滤波模块测试 | 第52-53页 |
| 5.1.5 LVDT解调电路的控制模块测试 | 第53-55页 |
| 5.1.6 测试系统联合仿真 | 第55页 |
| 5.2 故障覆盖率评估 | 第55-56页 |
| 5.2.1 LVDT解调电路的滤波模块的故障覆盖率 | 第55-56页 |
| 5.2.2 LVDT解调电路的控制模块的故障覆盖率 | 第56页 |
| 5.3 测试算法的性能比较 | 第56-57页 |
| 5.4 本章小结 | 第57-58页 |
| 第六章 总结与展望 | 第58-59页 |
| 参考文献 | 第59-63页 |
| 致谢 | 第63-64页 |
| 在学期间的研究成果及发表的学术论文 | 第64页 |
