| 致谢 | 第7-8页 |
| 摘要 | 第8-9页 |
| ABSTRACT | 第9页 |
| 第一章 绪论 | 第14-23页 |
| 1.1 研究背景 | 第14-19页 |
| 1.1.1 集成电路的发展 | 第14-16页 |
| 1.1.2 集成电路的老化问题 | 第16-19页 |
| 1.2 数字电路老化预测与防护 | 第19-21页 |
| 1.2.1 老化预测模型建立问题 | 第19-20页 |
| 1.2.2 多核系统老化防护问题 | 第20-21页 |
| 1.3 本文研究的主要内容以及组织结构 | 第21-23页 |
| 1.3.1 基于RAMP模型的多核系统老化预测模型 | 第21-22页 |
| 1.3.2 缓解异构多核系统老化效应的任务调度 | 第22页 |
| 1.3.3 本文组织结构 | 第22-23页 |
| 第二章 集成电路的老化建模与防护 | 第23-34页 |
| 2.1 数字电路的老化分析 | 第23-27页 |
| 2.1.1 数字集成电路老化 | 第23-25页 |
| 2.1.2 集成电路的老化防护 | 第25-27页 |
| 2.2 集成电路的老化模型 | 第27-29页 |
| 2.2.1 晶体管和门电路级别模型 | 第27-28页 |
| 2.2.2 系统级别老化模型的研究 | 第28-29页 |
| 2.3 系统级别的老化的防护 | 第29-33页 |
| 2.3.1 系统参数的调整 | 第30页 |
| 2.3.2 输入向量控制 | 第30-31页 |
| 2.3.3 采用任务调度算法缓解异构多核系统的老化 | 第31-33页 |
| 2.4 小结 | 第33-34页 |
| 第三章 系统级别的老化模型 | 第34-45页 |
| 3.1 现有的系统级别的老化模型 | 第34-39页 |
| 3.1.1 RAMP模型 | 第34-36页 |
| 3.1.2 其他系统级老化模型 | 第36-39页 |
| 3.2 新的模型的建立 | 第39-44页 |
| 3.2.1 系统的整体可靠性模型 | 第40-42页 |
| 3.2.2 温度与功耗模型 | 第42-43页 |
| 3.2.3 TSR模型的建立与分析 | 第43-44页 |
| 3.3 小结 | 第44-45页 |
| 第四章 缓解异构多核系统老化效应的任务调度算法 | 第45-56页 |
| 4.1 异构多核系统介绍 | 第45-48页 |
| 4.1.1 异构多核系统的可靠性问题 | 第46-47页 |
| 4.1.2 对异构多核系统可靠性的优化 | 第47-48页 |
| 4.2 基于线性规划的任务调度算法 | 第48-52页 |
| 4.2.1 线性规划的介绍 | 第48-49页 |
| 4.2.2 异构多核系统任务调度的线性规划 | 第49-51页 |
| 4.2.3 线性规划的求解 | 第51-52页 |
| 4.3 实验与结果 | 第52-55页 |
| 4.3.1 实验的相关配置 | 第52-53页 |
| 4.3.2 处理核心任务调度结果 | 第53-54页 |
| 4.3.3 算法可靠性的对比 | 第54-55页 |
| 4.4 小结 | 第55-56页 |
| 第五章 总结与展望 | 第56-58页 |
| 5.1 本文贡献总结 | 第56页 |
| 5.2 未来工作展望 | 第56-58页 |
| 参考文献 | 第58-62页 |
| 攻读硕士学位期间的学术活动及成果情况 | 第62页 |