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BGA无铅焊点的失效分析

摘要第1-5页
Abstract第5-9页
第1章 绪论第9-21页
   ·课题背景及选题意义第9-13页
     ·BGA 封装的特点第9-11页
     ·BGA 封装的类型和结构第11-13页
   ·相关领域研究现状第13-20页
     ·主要的无铅焊料第13-14页
     ·金属间化合物第14-15页
     ·金属间化合物生长的动力学第15-17页
     ·SnAg 共晶焊料中的IMC第17-18页
     ·SnAgCu 焊料中的IMC第18-20页
   ·本课题主要研究内容第20-21页
第2章 BGA 焊点的初步失效分析第21-34页
   ·引言第21页
   ·试验设备、材料第21-24页
     ·试验设备第21-23页
     ·试验材料第23-24页
   ·实验结果与分析第24-32页
     ·X-ray 测试第24-25页
     ·金相切片分析第25-26页
     ·BGA 焊点界面分析第26-32页
   ·本章小结第32-34页
第3章 BGA 锡球的断裂分析第34-45页
   ·引言第34页
   ·BGA 锡球融化分析第34-37页
   ·原始BGA 锡球推力后断口观察第37-41页
   ·脱落BGA 断口表面分析第41-44页
   ·本章小结第44-45页
第4章 焊点组织的老化试验和热冲击试验第45-54页
   ·引言第45页
   ·焊点的界面微观组织及其演化第45-48页
   ·热冲击试验方法第48-49页
   ·微焊点表面形态及内部组织变化第49-53页
   ·本章小结第53-54页
第5章 焊球裂纹扩展理论简述第54-58页
   ·引言第54页
   ·疲劳裂纹扩展速率理论第54-55页
   ·疲劳裂纹扩展类型第55-56页
     ·滑移分离模型第55-56页
     ·累积损伤模型第56页
   ·焊球裂纹扩展的机制第56-57页
   ·本章小结第57-58页
结论第58-59页
参考文献第59-64页
致谢第64页

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