| 第一章 绪论 | 第1-14页 |
| 1．1 微电子表面组装生产中的自动光学检测系统简介 | 第6页 |
| 1．2 SMT中的检测技术 | 第6-9页 |
| 1．3 印刷电路板生产中的自动光学检测系统 | 第9-10页 |
| 1．4 国内外自动光学检测技术发展现状 | 第10-11页 |
| 1．5 研究具有自主知识产权自动检测系统的重要意义 | 第11页 |
| 1．6 本文的主要内容 | 第11-14页 |
| 第二章 SMT组装质量检测的AOI解决方案 | 第14-24页 |
| 2．1 SMT组装质量检测AOI解决方案 | 第14-20页 |
| 2．2 VisionPoint型自动光学检测系统 | 第20-23页 |
| 2．3 本章总结 | 第23-24页 |
| 第三章 图像的较准和坐标系重定位 | 第24-42页 |
| 3．1 图像的精确较准和定位是图像检测的关键所在 | 第24-25页 |
| 3．2 边缘检测用于新坐标系的确定 | 第25-34页 |
| 3．2．1，确定新坐标系的策略 | 第26页 |
| 3．2．2，选择合适的边缘检测方案来确定边界点 | 第26-28页 |
| 3．2．3，确定边界点 | 第28-30页 |
| 3．2．4，确定边界线 | 第30-34页 |
| 3．3 坐标系重定位的LabVIEW实现 | 第34-38页 |
| 3．4 坐标定位程序的运行结果 | 第38-41页 |
| 3．5 本章总结 | 第41-42页 |
| 第四章 AOI图像匹配检测的实现 | 第42-60页 |
| 4．1 AOI中的图像匹配检测 | 第42-44页 |
| 4．2 基于特征提取的图像模式匹配 | 第44-51页 |
| 4．2．1 通过边缘检测和几何分析提取图像的几何特征 | 第44-48页 |
| 4．2．2 特征点采样技术 | 第48-50页 |
| 4．2．3 用互相关性作为相似度度量值 | 第50-51页 |
| 4．3 AOI图像检测程序的实现 | 第51-55页 |
| 4．3．1 程序的主界面和流程图 | 第51-52页 |
| 4．3．2 VI程序主要步骤的详细实现和数据流图 | 第52-55页 |
| 4．4 VI程序的运行情况和结果 | 第55-59页 |
| 4．5 本章总结 | 第59-60页 |
| 第五章 总结和展望 | 第60-62页 |
| 致谢 | 第62-63页 |
| 参考文献 | 第63-65页 |
| 攻读学位期间发表的学术论文 | 第65页 |
